Studium reálné struktury a vlastností hexaferitových vrstev pomocí metod rozptylu rtg. záření
| Název práce v češtině: | Studium reálné struktury a vlastností hexaferitových vrstev pomocí metod rozptylu rtg. záření |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Study of the real structure and properties of hexaferrite layers using X-ray scattering methods |
| Klíčová slova: | hexaferity|reálná struktura|rozptyl rtg. záření |
| Klíčová slova anglicky: | hexaferrites|real structure|x-ray scattering |
| Akademický rok vypsání: | 2024/2025 |
| Typ práce: | disertační práce |
| Jazyk práce: | |
| Ústav: | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) |
| Vedoucí / školitel: | RNDr. Milan Dopita, Ph.D. |
| Řešitel: | |
| Konzultanti: | Mgr. Lukáš Horák, Ph.D. |
| Zásady pro vypracování |
| 1. Studium doporučené odborné literatury, literaturní rešerže.
2. Charakterizace hexaferitových vrstev především pomocí rtg. difrakčních metod, měření přednostní orientace vrstev, rtg. reflektometrie a mapování reciprokého prostoru za účelem optimalizace depozičních parametrů přípravy vrstev. 3. Měření prvkového složení vrstev, participace na megnetoelektrických měřeních a vyhodnocení získaných dat. 4. Vytvoření relevantních fyzikálních modelů připravených vrstev a korelace mezi parametry přípravy vrstev, jejich morfologií, reálnou strukturou a magnetoelektrickými vlastnostmi. |
| Seznam odborné literatury |
| - V. Valvoda, M. Polcarová, P. Lukáč, Základy strukturní analýzy, Karolinum, Praha, 1992.
- B.E. Warren, X-ray diffraction, Dower Publications, INC, New York, 1990. - J. Als-Nielsen and D. McMorrow, Elements of Modern X-Ray Physics. New York: Wiley, 2001. - U. Pietsch, V. Holý, and Tilo Baumbach, High-resolution X-ray scattering from Thin Films and Lateral Nanostructures, Second. New York: Springer, 2004. - T. Egami and S. J. L. Billinge, Underneath the Bragg Peaks, Elsevier, Ltd, Oxford, 2003. - J. Smith, H.P.J. Wijn, Ferrites, Philips Technical Library, N.V. Philips' Gloeilampenfabrieken, Eindhoven, Holland, 1959. - Aktuální články z odborných periodik dle pokynů vedoucího a knzultanta práce. |
| Předběžná náplň práce |
| Náplní práce je strukturní studium hexaferitových tenkých vrstev metodami rozptylu rtg. záření (rtg. difrakce, rtg. reflektivita, měření přednostní orientace krystalitů, mapování reciprokého prostoru) kombinované s měřeními magnetických a magnetoelektrických vlastností s cílem objasnit korelaci mezi parametry reálné struktury vrstev a jejich magnetickými a magnetoelektrickými vlastnostmi.
|
| Předběžná náplň práce v anglickém jazyce |
| The content of the thesis is the structural study of hexaferrite thin layers by x-ray scattering methods (x-ray diffraction, x-ray reflectivity, measurement of preferred orientation of crystallites, reciprocal space mapping) combined with measurements of magnetic and magnetoelectric properties in order to clarify the correlation between parameters of the real structure of the layers and their magnetic and magnetoelectric properties.
|