Cílem projektu jsou elipsometrická měření optické odezvy nanometrových vrstev sříbra nanesených na různých adhezních vrstvách. Spektroskopická elipsometrie využívá změny polarizačního stavu světla při odrazu na verstvě ke zjištění indexu lomu materiálu. Student proměří vybrané vrzoky na spektroskopickém elipsometru a s pomocí komerčního fitovacího programu experimentální data vyhodnotí. To povede k selekci nejvhodnější adhezní vrstvy pro depozici stříbrných vrstev na skleněných substrátech.
Seznam odborné literatury
R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, Ellipsometry and Polarized Light, North-Holland, Amsterdam / New York / Oxford 1977.
Vybraný soubor původních prací týkajících se tématu. K dispozici u vedoucího projektu.
Předběžná náplň práce
Příprava nanometrových kovových vrstev na různých skleněných substrátech je důležitá při výrobě reflexních prvků pro optické přístroje či bižuterní průmysl. V těchto oberech jsou však vyžadovány přesně definované optické vlastnosti (odrazivost, propustnost) deponovaných vrstev. Vzhledem k amorfnímu skleněnému substrátu je velmi obtížné kovové vrstvy připravit s odpovídající kvalitou. Je proto nutné použít adhezní vrstvy, která slouží jako podklad a spojující materiál mezi sklem a kovem. Tyto vrstvy však ovlivňují výsledné optické vlastnosti kovových vrstev. Je tedy zapotřebí najít vhodnou kombinaci kovu a adhezní vrstvy pro dané aplikace.
