Optické a magnetooptické vlastnosti tenkých vrstev topologického izolátoru Bi2Se3
| Název práce v jazyce práce (slovenština): | Optické a magnetooptické vlastnosti tenkých vrstev topologického izolátoru Bi2Se3 |
|---|---|
| Název práce v češtině: | Optické a magnetooptické vlastnosti tenkých vrstev topologického izolátoru Bi2Se3 |
| Název v anglickém jazyce: | Optical and magneto-optical properties of thin films of topological insulator Bi2Se3 |
| Klíčová slova: | topologické izolátory, fourier-transform infrared spectroscopy, spektroskopická elipsometria, Landauove hladiny |
| Klíčová slova anglicky: | topological insulators, fourier-transform infrared spectroscopy, spectroscopic ellipsometry, Landau levels |
| Akademický rok vypsání: | 2019/2020 |
| Typ práce: | bakalářská práce |
| Jazyk práce: | slovenština |
| Ústav: | Fyzikální ústav UK (32-FUUK) |
| Vedoucí / školitel: | RNDr. Martin Veis, Ph.D. |
| Řešitel: | skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd. |
| Datum přihlášení: | 17.04.2020 |
| Datum zadání: | 17.04.2020 |
| Datum potvrzení stud. oddělením: | 25.06.2020 |
| Datum a čas obhajoby: | 15.07.2020 09:00 |
| Datum odevzdání elektronické podoby: | 03.06.2020 |
| Datum odevzdání tištěné podoby: | 03.06.2020 |
| Datum proběhlé obhajoby: | 15.07.2020 |
| Oponenti: | Mgr. Jaroslav Hamrle, Ph.D. |
| Konzultanti: | RNDr. Milan Orlita, Ph.D. |
| Zásady pro vypracování |
| 1) Seznámit se s fyzikou topologických izolátorů.
2) Osvojit si základy magnetooptických měření ve vysokých magnetických polích. 3) Osvojit si měření spektroskopické elipsometrie. 4) Provést magnetooptická a elipsometrická měření. 5) Zpracovat naměřená data. 6) Na základě jednoduchých teoretických modelů diskutovat dosažené výsledky. |
| Seznam odborné literatury |
| [1] M. Orlita et al., Phys Rev. Lett. 114, 186401 (2015)
[2] H. Zhang et al., Nature Phys. 5, 438 (2009) [3] C.X. Liu et al., Phys. Rev. B 82, 045122 (2010) Další časopisecká literatura k dispozici u vedoucího práce. |