Teplotně závislé měření elipsometri na CdTe/CdZnTe
| Název práce v češtině: | Teplotně závislé měření elipsometri na CdTe/CdZnTe |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Temperature dependent ellipsometry measurement on CdTe/CdZnTe |
| Klíčová slova: | polarizace, elipsometrie, CdTe, index lomu, detektor záření |
| Klíčová slova anglicky: | polarization, ellipsometry, CdTe, refraction index, radiation detector |
| Akademický rok vypsání: | 2017/2018 |
| Typ práce: | projekt |
| Jazyk práce: | čeština |
| Ústav: | Fyzikální ústav UK (32-FUUK) |
| Vedoucí / školitel: | RNDr. Jakub Zázvorka, Ph.D. |
| Řešitel: | |
| Datum a čas obhajoby: | 24.06.2016 00:00 |
| Konzultanti: | RNDr. Martin Veis, Ph.D. |
| Zásady pro vypracování |
| 1. Seznámit se s principem spektroskopické elipsometrie a s aparaturou na FÚUK.
2. Doplnit elipsometr o Peltierův článek. 3. Kalibrovat Peltieruv článek pro měření elipsometrie. 4. Naměřit elipsometrickou odezvu v závislosti na teplotě alespoň dvou vzorků CdZnTe s různým obsahem zinku. 5. Vyhodnotit naměřené závislosti. 6. Sepsat závěrečnou zprávu projektu. |
| Seznam odborné literatury |
| [1] Petr Malý, Optika, Karolinum 2008.
[2] W. A. McGahan, B. Johs, and J. a. Woollam, “Techniques for ellipsometric measurement of the thickness and optical constants of thin absorbing films,” Thin Solid Films, vol. 234, no. 1–2, pp. 443–446, Oct. 1993. [3] H. W. Yao, J. C. Erickson, H. B. Barber, R. B. James, and H. Hermon, “Optical Properties of Cd0.9Zn0.1Te Studied by Variable Angle Spectroscopic Ellipsometry between 0.75 and 6.24 eV,” vol. 28, no. 6, pp. 760–765, 1999. |
| Předběžná náplň práce |
| Spektroskopická elipsometrie je v dnešní době hojně využívanou technikou pro nedestruktivní studium optických parametrů materiálu jako jsou index lomu a extinkční koeficient. Práce je zaměřena studium závislosti polohy zakázaného pásu a dalších parametrů na teplotě materiálu CdTe a CdZnTe na teplotě. CdTe a CdZnTe je moderním materiálem pro přípravu detektorů radiace (rentgenového a gama záření). Při venkovním použití je ale detektor vystaven vlivům počasí, především změně teploty. Cílem projektu je pomocí spektroskopické elipsometrie prozkoumat závislost optických parametrů CdTe v rozmezí teplot 10°C až 30°C. K tomu je potřeba doplnit a nakalibrovat elipsometr Peltierovým článkem. Výsledky měření budou konfrontovány s teoretickým modelem a výsledky z dalších měřících metod. |