velikost textu

Komplexní difrakční studium tenkých polykrystalických vrstev

Upozornění: Informace získané z popisných dat či souborů uložených v Repozitáři závěrečných prací nemohou být použity k výdělečným účelům nebo vydávány za studijní, vědeckou nebo jinou tvůrčí činnost jiné osoby než autora.
Název:
Komplexní difrakční studium tenkých polykrystalických vrstev
Název v angličtině:
Complex diffraction Study of polycrystalline thin Film
Typ:
Disertační práce
Autor:
Mgr. Daniel Šimek
Školitel:
doc. RNDr. Radomír Kužel, CSc.
Oponenti:
RNDr. Petr Lukáš, CSc.
prof. RNDr. Václav Valvoda, CSc.
Id práce:
42727
Fakulta:
Matematicko-fyzikální fakulta (MFF)
Pracoviště:
Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL)
Program studia:
Fyzika (P1701)
Obor studia:
Fyzika kondenzovaných látek a materiálový výzkum (F3)
Přidělovaný titul:
Ph.D.
Datum obhajoby:
30. 9. 2008
Výsledek obhajoby:
Prospěl/a
Jazyk práce:
Čeština
Dokumenty
Stáhnout Dokument Autor Typ Velikost
Stáhnout Text práce Mgr. Daniel Šimek 6.38 MB
Stáhnout Abstrakt v českém jazyce Mgr. Daniel Šimek 80 kB
Stáhnout Abstrakt anglicky Mgr. Daniel Šimek 80 kB
Stáhnout Posudek vedoucího doc. RNDr. Radomír Kužel, CSc. 284 kB
Stáhnout Posudek oponenta RNDr. Petr Lukáš, CSc. 512 kB
Stáhnout Posudek oponenta prof. RNDr. Václav Valvoda, CSc. 498 kB
Stáhnout Záznam o průběhu obhajoby 276 kB