PředmětyPředměty(verze: 964)
Předmět, akademický rok 2024/2025
   Přihlásit přes CAS
Aplikovaná strukturní analýza - NFPL040
Anglický název: Applied Structure Analysis
Zajišťuje: Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL)
Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
Platnost: od 2015
Semestr: letní
E-Kredity: 3
Rozsah, examinace: letní s.:1/1, Z+Zk [HT]
Počet míst: neomezen
Minimální obsazenost: neomezen
4EU+: ne
Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
Stav předmětu: vyučován
Jazyk výuky: čeština, angličtina
Způsob výuky: prezenční
Další informace: http://krystal.karlov.mff.cuni.cz/FPL040
Garant: doc. RNDr. Stanislav Daniš, Ph.D.
Vyučující: doc. RNDr. Stanislav Daniš, Ph.D.
Kategorizace předmětu: Fyzika > Fyzika pevných látek
Anotace -
Přesné měření difrakčních charakteristik. "Dynamické" efekty v krystalických materiálech. Modulace uspořádání na malou a velkou vzdálenost. Experimentální metody studia usporádání na krátkou vzdálenost - EXAFS, difuzní rozptyl. Výpočetní metody v aplikované strukturní analýze, Rietveldova metoda.
Poslední úprava: T_KFES (18.04.2014)
Podmínky zakončení předmětu -

Podmínkou ukončení předmětu je úspěšné absolvování zápočtová písemky a ústní zkoušky. Písemka sestává z vyřešení jedné úlohy podobné těm řešených na cvičení. Úspěšné získání zápočtu je podmíněno úspěšným vyřešením úlohy.

Poslední úprava: Daniš Stanislav, doc. RNDr., Ph.D. (10.10.2017)
Literatura -

Valvoda, V., Polcarová, M., Lukáč, P, Základy strukturní analýzy, vydavatelství Karolinum, Praha 2002

Kraus, I., Úvod do strukturní rentgenografie, Academia, Praha 1985

Pietsch, U., Holý, V., Baumbach, T., High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures, Springer-Verlag New York 2004

Poslední úprava: Daniš Stanislav, doc. RNDr., Ph.D. (30.04.2019)
Požadavky ke zkoušce

Závěrečná zkouška sestává jen z ústní části. Požadavky k ústní zkoušce odpovídají sylabu předmětu v rozsahu jakým byl odpřednášen. Získání zápočtu NENÍ podmínkou účasti na ústní zkoušce.

Poslední úprava: Daniš Stanislav, doc. RNDr., Ph.D. (10.10.2017)
Sylabus -

1. Přesné měření difrakčních charakteristik.

Vliv instrumentálních efektů a mikrostrukturních charakteristik na tvar rtg difračních záznamů. Geometrické faktory, instrumentální aberace, transparence vzorku, absorpce záření, hrubost povrchu, primární a sekundární extinkce, textura.

2. "Dynamické" efekty v krystalických materiálech.

Teplotní kmity, difúze, chemické nehomogenity.

3. Modulace uspořádání na malou a velkou vzdálenost.

Difrakční obraz změn lokálního uspořádání při fázových přechodech.Difrakce na strukturách s velkou translační periodou (multivrstvy, supravodiče), vysokoúhlová difrakce, nízkoúhlová difrakce a reflexe (optická teorie, DWBA).

4. Experimentální metody studia usporádání na krátkou vzdálenost - EXAFS, difuzní rozptyl

5. Výpočetní metody v aplikované strukturní analýze.

Simulace difrakčního záznamu (LAZY PULVERIX) Zpřesňování strukturních parametrů a parametrů reálné struktury (Rietveldova metoda). Dekonvoluční metody. Výpočet parametrů ultratenkých vrstev, multivrstev a supravodičů (SUPREX).

Poslední úprava: T_KFES (26.05.2003)
 
Univerzita Karlova | Informační systém UK