|
|
|
||
Přesné měření difrakčních charakteristik.
"Dynamické" efekty v krystalických materiálech.
Modulace uspořádání na malou a velkou vzdálenost.
Experimentální metody studia usporádání na krátkou vzdálenost - EXAFS, difuzní rozptyl.
Výpočetní metody v aplikované strukturní analýze, Rietveldova metoda.
Poslední úprava: T_KFES (18.04.2014)
|
|
||
Podmínkou ukončení předmětu je úspěšné absolvování zápočtová písemky a ústní zkoušky. Písemka sestává z vyřešení jedné úlohy podobné těm řešených na cvičení. Úspěšné získání zápočtu je podmíněno úspěšným vyřešením úlohy. Poslední úprava: Daniš Stanislav, doc. RNDr., Ph.D. (10.10.2017)
|
|
||
Valvoda, V., Polcarová, M., Lukáč, P, Základy strukturní analýzy, vydavatelství Karolinum, Praha 2002 Kraus, I., Úvod do strukturní rentgenografie, Academia, Praha 1985 Pietsch, U., Holý, V., Baumbach, T., High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures, Springer-Verlag New York 2004
Poslední úprava: Daniš Stanislav, doc. RNDr., Ph.D. (30.04.2019)
|
|
||
Závěrečná zkouška sestává jen z ústní části. Požadavky k ústní zkoušce odpovídají sylabu předmětu v rozsahu jakým byl odpřednášen. Získání zápočtu NENÍ podmínkou účasti na ústní zkoušce. Poslední úprava: Daniš Stanislav, doc. RNDr., Ph.D. (10.10.2017)
|
|
||
1. Přesné měření difrakčních charakteristik.
Vliv instrumentálních efektů a mikrostrukturních charakteristik na tvar rtg difračních záznamů. Geometrické faktory, instrumentální aberace, transparence vzorku, absorpce záření, hrubost povrchu, primární a sekundární extinkce, textura.
2. "Dynamické" efekty v krystalických materiálech.
Teplotní kmity, difúze, chemické nehomogenity.
3. Modulace uspořádání na malou a velkou vzdálenost.
Difrakční obraz změn lokálního uspořádání při fázových přechodech.Difrakce na strukturách s velkou translační periodou (multivrstvy, supravodiče), vysokoúhlová difrakce, nízkoúhlová difrakce a reflexe (optická teorie, DWBA).
4. Experimentální metody studia usporádání na krátkou vzdálenost - EXAFS, difuzní rozptyl
5. Výpočetní metody v aplikované strukturní analýze.
Simulace difrakčního záznamu (LAZY PULVERIX) Zpřesňování strukturních parametrů a parametrů reálné struktury (Rietveldova metoda). Dekonvoluční metody. Výpočet parametrů ultratenkých vrstev, multivrstev a supravodičů (SUPREX). Poslední úprava: T_KFES (26.05.2003)
|