|
|
|
||
|
Interakce elektromagnetických vln definované polarizace s isotropní
tenkou vrstvou na isotropní podložce. Reflexní a transmisní koeficienty.
Vliv absorpce. Vztahy mezi materiálovými parametry (elektrickou
permitivitou, susceptibilitou) a optickými charakteristikami.
Elipsometrie. Vliv rozhraní. Rozšíření na vícevrstvé systémy. Uvážení
optické anizotropie, krystalová optika tenkých vrstev. Stranově
strukturované systémy a difrakce. Reálné vrstevnaté struktury. Aproximace efektivního prostředí.
Poslední úprava: Višňovský Štefan, prof. Ing., DrSc. (20.05.2013)
|
|
||
|
Úvod do vlnové optiky tenkých vrstev a multivrstev. Poslední úprava: VISNOV/MFF.CUNI.CZ (15.05.2008)
|
|
||
|
Ústní zkouška Poslední úprava: Višňovský Štefan, prof. Ing., DrSc. (13.06.2019)
|
|
||
|
R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, Ellipsometry and polarized light, Noth-Holland, Amsterdam / New York / Oxford 1977. P. Yeh, Electromagnetic propagation in birefringent layered media, J. Opt. Soc. Am. 69 (1979) 742-756. Štefan Višňovský, Elektromagnetické vlny ve vrstevnatých strukturách, 2019, 115 stran, učební text (k disposici studentům zapsaným na předmět). Štefan Višňovský, Optika efektivních prosředí, 2019, 114 stran, učební text (k disposici studentům zapsaným na předmět). Poslední úprava: Višňovský Štefan, prof. Ing., DrSc. (13.06.2019)
|
|
||
|
Přednáška Poslední úprava: VISNOV/MFF.CUNI.CZ (15.05.2008)
|
|
||
|
Maxwellovy rovnice v prostředích nehomogenních podél jediné osy. Planární vrstevnaté struktury. Isotropní multivrstvy při obecném úhlu dopadu. Výpočet reflexních a transmisních koeficientů. Poyntigův vector v isotropních multivrstvách. Reflektivita a propustnost. Teorie efektivního prostředí. Poslední úprava: Višňovský Štefan, prof. Ing., DrSc. (13.06.2019)
|
|
||
|
Souhrn poznatků z teorie elektromagnetických vln Maxwellovy rovnice, vlnová rovnice v lineárním isotropním homogenním prostředí, krystalová optika. Anisotropní prostředí, vliv vnějších polí na materiálové tensory, přirozená a indukovaná anisotropie. Optické konstanty.
Základy elipsometrie Modely pro popis rozhraní. Elipsometrické systémy, jejich prvky, výpočet přenosových funkcí sytému, vliv nedokonalosti optických prvků, nulovací a intensitní elipsometrie. Teorie efektivního prostředí.
Planární vrstevnaté struktury. Isotropní multivrstvy při obecném úhlu dopadu, podmínky pro vlastní módy. Analogie s kvantově mechanickými úlohami. Rozšíření na anisotropní multivrstvy popisované obecným tensorem permitivity. Multivrstvy s obecným profilem tensoru permitivity. Vliv rozhraní na optické charakteristiky a optická diagnostika tenkých vrstev a multivrstev. Poslední úprava: Višňovský Štefan, prof. Ing., DrSc. (13.06.2019)
|