|
|
|
||
Poslední úprava: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (22.04.2014)
|
|
||
Poslední úprava: prof. RNDr. Václav Holý, CSc. (06.10.2017)
Zkouška se sestává z písemné a ústní části. Písemná část spočívá ve vyřešení velmi snadného problému, který nevyžaduje dlouhé počítání (max. 30 min). Ústní část navazuje na řešení zmíněného problému a trvá max. 45 min. Známka zkoušky se stanoví ze souhrnného hodnocení písemné a ústní části. Požadavky zkoušky odpovídají skutečně odpřednášené části sylabu. |
|
||
Poslední úprava: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (22.04.2014)
1. B.J. Gabrys (Ed.), Applications of Neutron Scattering to Soft Condensed Matter, Gordon and Breach Science Publisher, 2000 2. Pietsch U., Holý V. and Baumbach T., High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films to Lateral Nanostructures, Springer-Verlag Berlin, Heidelberg, New York 2004. 3. David B.Williams and C.Barry Carter, Transmission Electron Microscopy, A Textbook for Material Science, Plenum Press, New York 1996. |
|
||
Poslední úprava: prof. RNDr. Václav Holý, CSc. (06.10.2017)
Požadavky zkoušky odpovídají skutečně odpřednášené části sylabu. |
|
||
Poslední úprava: JANECEK (18.05.2007)
1. Zobrazovací metody pro studium nízkodimenzionálních struktur Transmisní elektronová mikroskopie, mikroskopie pomalých elektronů, rastrovací techniky: rastrovací elektronová mikroskopie, rastrovací tunelová mikroskopie, mikroskopie atomové síly a její modifikace
2. Difrakční metody pro studium nízkodimensionálních struktur Difrakce rychlých elektronů, difrakce pomalých elektronů, rtg difrakce, rtg reflexe, maloúhlý rtg rozptyl
3. Studium elektronových stavů v nanostrukturách Optická spektroskopie, elipsometrie, spektroskopie fotoelektronů
4. Studium fononových stavů v nanostrukturách Nepružný neutronový rozptyl, Ramanův rozptyl, elipsometrie a IR absorpce
5. Chemická analýza nanostruktur Metody založené na rtg charakteristickém záření (rtg. fluorescence, elektronová energiově dispersní analýza, anomální rtg rozptyl) Metody elektronové spektroskopie (Augerovy elektrony, metoda EELS) Metody iontové spektroskopie (Rutherford backscattering, metoda SIMS) |