|
|
|
||
Aplikace kinematické a semikinematické teorie difrakce záření při studiu struktury a
morfologie polykrystalických, nanokrystalických a amorfních tenkých vrstev a nízkodimensionálních struktur.
Vysokoúhlový a maloúhlový rozptyl záření. Základy dynamické teorie difrakce a její aplikace pro
studium struktury epitaxních vrstev. Základní experimentální techniky používané pro rtg. difrakční studium
reálné struktury tenkých vrstev.
Poslední úprava: T_KFES (23.05.2003)
|
|
||
Zkouška se sestává z písemné a ústní části. Písemná část spočívá ve vyřešení velmi snadného problému, který nevyžaduje dlouhé počítání (max. 30 min). Ústní část navazuje na řešení zmíněného problému a trvá max. 45 min. Známka zkoušky se stanoví ze souhrnného hodnocení písemné a ústní části. Požadavky zkoušky odpovídají skutečně odpřednášené části sylabu. Poslední úprava: Holý Václav, prof. RNDr., CSc. (29.04.2019)
|
|
||
Jens Als-Nielsen, Des McMorrow: Elements of Modern X-Ray Physics, Wiley 2011
Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach: High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures, Springer 2004
Poslední úprava: Mikšová Kateřina, Mgr. (14.05.2019)
|
|
||
Požadavky zkoušky odpovídají skutečně odpřednášené části sylabu. Poslední úprava: Holý Václav, prof. RNDr., CSc. (29.04.2019)
|
|
||
Aplikace kinematické a semikinematické teorie difrakce záření při studiu struktury a morfologie polykrystalických, nanokrystalických a amorfních tenkých vrstev a nízkodimensionálních struktur. Vysokoúhlový a maloúhlový rozptyl záření. Základy dynamické teorie difrakce a její aplikace pro studium struktury epitaxních vrstev. Základní experimentální techniky používané pro rtg. difrakční studium reálné struktury tenkých vrstev. Poslední úprava: Holý Václav, prof. RNDr., CSc. (29.04.2019)
|