Rentgenové difrakční studium reálné struktury PL - NFPL029

• Anglický název: X-ray Diffraction Study of Real Structure of Solids
• Zajišťuje: Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL)
• Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
• Platnost: od 2020
• Semestr: zimní
• E-Kredity: 2
• Rozsah, examinace: zimní s.:1/0, Zk [HT]
• Počet míst: neomezen
• Minimální obsazenost: neomezen
• 4EU+: ne
• Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
• Stav předmětu: vyučován
• Jazyk výuky: čeština, angličtina
• Způsob výuky: prezenční
• Garant: prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc.; RNDr. Milan Dopita, Ph.D.
• Vyučující: prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc.
• Kategorizace předmětu: Fyzika > Fyzika pevných látek

Anotace

čeština

Kinematická teorie difrakce reálnými krystaly. Studium poruch krystalové mříže, velikosti a tvaru částic, zbytkových napětí, textur, kmitů atomů v krystalové mříži. Difúzní rozptyl. Maloúhlový rozptyl. Rentgenová topografie. Pro 1. a 2. nmgr . Vhodné po absolvování přednášky FPL012 a FPL030.

Poslední úprava: Mikšová Kateřina, Mgr. (13.05.2019)

angličtina

Kinematic theory of diffraction by real crystals. Study of lattice defects, size and shapes of crystallites, residual stresses, textures, lattice vibrations. Diffuse scattering. Small-angle scattering. X-ray topography.

Poslední úprava: T_KFES (23.05.2001)

Podmínky zakončení předmětu

čeština

Ústní zkouška z probrané látky

Poslední úprava: Kužel Radomír, prof. RNDr., CSc. (12.05.2022)

angličtina

Oral exam from the content of the lecture

Poslední úprava: Kužel Radomír, prof. RNDr., CSc. (12.05.2022)

Literatura

• V. Valvoda, M. Polcarová, P. Lukáč : Základy strukturní analýzy. Karolinum. Praha. 1992

• I. Kraus : Úvod do strukturní rentgenografie. Academia. Praha 1985

• I. Kraus., V.V. Trofimov : Rentgenová tenzometrie. Academia. Praha 1988. Quantitative Texture Analysis. ed. H.J. Bunge, C. Esling. DGM. Oberursel. 1982

• Experimentální techniky v rentgenové a neutronové strukturní analýze. Krystalografická společnost. Praha 1994. ed. R. Kužel

• Difrakcia na polykryštalických látkach.R & D. Print. Bratislava. 1994. red. L. Smrčok

• dále vybrané články z časopisů

Poslední úprava: Zakouřil Pavel, RNDr., Ph.D. (05.08.2002)

Sylabus

čeština

1. Kinematická teorie difrakce rtg. záření reálnými krystaly.

Krivoglazova teorie, difrakce záření ideálním a reálným krystalem, klasifikace poruch krystalové mříže z hlediska difrakce, možnosti jejich studia.

2. Zbytková napětí.

Klasifikace napětí, popis napětí, napětí v tenkých vrstvách. Měření napětí, trojosá napětí.

3. Textury.

Obecný popis textury, pólové obrazce, ODF, textury v tenkých vrstvách, studium zbytkových napětí na texturovaných vzorcích, souvislost textury s fyzikálními vlastnostmi

4. Studium profilů difrakčních linií.

Korekce na instrumentální rozšíření, separace efektů mikronapětí a malé velikosti částic různými metodami.

5. Studium poruch 2. druhu z rozšíření difrakčních linií

Dislokace a dislokační struktury. Vrstevné chyby

6. Studium velikosti, tvaru a rozdělení velikostí krystalitů.

7. Studium poruch 1. druhu z posunutí a zeslabení difrakčních linií.

Popis deformačního pole, změny mřížového parametru, statické Debyeovy-Wallerovy faktory.

8. Difúzní rozptyl.

Tepelný a strukturní difúzní rozptyl, geometrický a chemický nepořádek, Huangův rozptyl bodovými poruchami a jejich shluky.

9. Rozptyl na precipitátech a dislokačních smyčkách.

10. Poruchy v monokrystalech. Rentgenová topografie.

11. Maloúhlový rozptyl.

Poslední úprava: T_KFES (26.05.2003)

angličtina

1. Kinematic theory of diffraction by real crystals.

Krivoglaz theory, diffraction by ideal and real crystal, classification of lattice defects from the point of view of diffraction pattern, possibilities of their study.

2. Residual stresses.

Classification of stresses, description of stresses, stresses in thin films Stress measurement, triple-axis stresses.

3. Textures

General description of texture, pole figures, ODF, textures in thin films, residual stresses in textured samples, texture and physical properties

4. Line profile analysis

Correction of instrumental broadening, size-strain separation by different methods.

5. Study of lattice defects from line broadening

Dislocations and dislocation structures. Stacking faults.

6. Study of crystallite size, shape and distributions.

7. Study of lattice defects from change of diffracted intensities.

Description of displacement field, lattice parameter changes, static displacements, Debye-Waller factors

8. Diffuse scattering.

Thermal and structure diffuse scattering, geometrical and chemical disorder Huang scattering by point defects and their clusters

9. Scattering by precipitates and dislocation loops.

10. Defects in single crystals. X-ray topography.

11. Small-angle scattering.

Poslední úprava: T_KFES (26.05.2003)