Poslední úprava: T_KEVF (09.05.2011)
Elektronově optické mikroskopie - Transmisní elektronová mikroskopie (TEM), mikroskopie pomalých elektronů (LEEM), mikroskopie fotoelektronů (PEEM). Difrakce - pomalých elektronů (LEED), analýza energetických křivek (IV-LEED), analýza profilu stop (SPA-LEED), rychlých elektronů (RHEED), fotoelektronů (XPD), rentgenová (XRD, XSW). Spektroskopie ztráty energie elektronů (EELS), infračervené spektroskopie (RAIRS, SERS). Fotoelektronová spektroskopie - buzená rentgenovými paprsky (XPS), vysoce energetickými rentgenovými paprsky (HXPS), synchrotroonovým zářením (SRPES), ultrafialovými paprsky (UPS), úhlově rozlišená (ARPES), spinově polarizovaná (SP-XPS), inverzní (IPS).
Poslední úprava: T_KEVF (06.05.2009)
Photoelectron spectroscopy (PES), synchrotron radiation PES, analysis of satellites, resonance PES, EXAFS, photoelectron diffraction, local structure study, angle resolved ultraviolet PES (ARUPS), band mapping, depth profiling by angle and energy resolved PES, high energy PES (HAXPES).
|