PředmětyPředměty(verze: 845)
Předmět, akademický rok 2018/2019
   Přihlásit přes CAS
Pokročilé metody fyziky povrchů - NEVF168
Anglický název: Advanced Methods of Surface Physics
Zajišťuje: Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP)
Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
Platnost: od 2018 do 2019
Semestr: zimní
E-Kredity: 3
Rozsah, examinace: zimní s.:2/0 Zk [hodiny/týden]
Počet míst: neomezen
Minimální obsazenost: neomezen
Stav předmětu: vyučován
Jazyk výuky: čeština
Způsob výuky: prezenční
Garant: doc. RNDr. Karel Mašek, Dr.
RNDr. Viktor Johánek, Ph.D.
Anotace -
Poslední úprava: doc. RNDr. Jiří Pavlů, Ph.D. (14.05.2018)
Pokročilé metody, přístrojové vybavení a další témata fyziky povrchů, tenkých vrstev, heterogenní katalýzy a chemické fyziky rozšiřující základní přednášky oboru Fyzika povrchů a rozhraní. Iontové spektroskopie, vibrační spektroskopie, mikroskopie PEEM a LEEM, operando metody, chemické reaktory, senzory plynů.
Podmínky zakončení předmětu -
Poslední úprava: doc. RNDr. Jiří Pavlů, Ph.D. (14.05.2018)

Zkouška z tohoto předmětu je ústní. Požadavky zkoušky odpovídají sylabu předmětu v rozsahu, který byl prezentován na přednášce.

Literatura -
Poslední úprava: doc. RNDr. Jiří Pavlů, Ph.D. (14.05.2018)

Practical Surface Analysis (second edition), Volume 2: Ion and Neutral Spectroscopy, edited by D. Briggs and M.P. Seah, John Wiley and Sons, 1992

E. Bauer, Surface Microscopy with Low Energy Electrons, Springer, 2014

Vibrational Spectroscopy of Molecules on Surfaces, edited by T.E Madey and J.T. Yates Jr., John Wiley and Sons, 1987; Barbara Stuart, Infrared Spectroscopy: Fundamentals and Applications, Wiley and Sons, 2005; Y.J. Chabal, Surface Infrared Spectroscopy, Surf. Sci. Rep. 8 (1988) 211-357

Practical Surface Analysis (second edition), Volume 1: Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy, edited by D. Briggs and M.P. Seah, John Wiley and Sons, 1990; Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy, edited by D. Briggs and J.T. Seah, IM Publications 2003

R.J. Stetter, J. Li, Amperometric gas sensors - a review, Chemical Reviews 108 (2008) 352-366; K. Potje-Kamloth, Semiconductor junction gas sensors, Chemical Reviews 108 (2008) 367-399; G. Korotcenkov, The role of morphology and crystallographic structure of metal oxides in response of conductometric-type gas sensors, Materials Science and Engineering R 61 (2008) 1-39

Sylabus -
Poslední úprava: doc. RNDr. Jiří Pavlů, Ph.D. (14.05.2018)

Iontové spektroskopie - rozdělení iontových metod, interakce iontů s pevnou látkou, SIMS, LEIS (ISS), RBS, srovnání iontových metod s ostatními povrchovými metodami.

Vibrační spektroskopie - základní fyzikální principy, rotačně- vibrační Ramanovská a infračervená spektroskopie, experimentální uspořádání a typy vzorků, interpretace spekter, časově rozlišené měření, příklady experimentů.

Mikroskopie PEEM a LEEM - fyzikální pricipy metod, přístrojové vybavení (společné základy a rozdíly), zobrazovací módy, spektroskopická informace, další modifikace a rozšíření - FE-LEEM, SPLEEM, XPEEM, UV-PEEM.

Operando metody - analýza povrchů v reálných reakčních podmínkách, obecná metodologie, elektronové spektroskopie v kapalinách a ve vyšších tlacích plynů (NAP-XPS/PES), mikroskopie v kapalinách a ve vyšších tlacích plynů (Ambient AFM, operando STM).

Vysokotlaký chemický reaktor - základní koncepty měření reakcí v plynné fázi, typy reaktorů, analýza plynů (hmotové spektrometrie, plynové chromatografie, ...), interpretace a kvantifikace měření, reakční aktivita, selektivita a míra konverze.

Senzory plynů - základní typy plynových senzorů, charakterizace a vlastnosti senzorů, stanice pro měření senzorů, měření charakteristik senzorů v reálných podmínkách, interpretace a kvantifikace měření.

 
Univerzita Karlova | Informační systém UK