Molekulová a iontová spektroskopie - NEVF148

• Anglický název: Molecular and Ion Spectroscopy
• Zajišťuje: Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP)
• Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
• Platnost: od 2020
• Semestr: zimní
• E-Kredity: 3
• Rozsah, examinace: zimní s.:2/0, Zk [HT]
• Počet míst: neomezen
• Minimální obsazenost: neomezen
• 4EU+: ne
• Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
• Stav předmětu: vyučován
• Jazyk výuky: čeština
• Způsob výuky: prezenční
• Další informace: https://physics.mff.cuni.cz/kfpp/rozvrh.html
• Garant: doc. RNDr. Jan Wild, CSc.; doc. RNDr. Jiří Pavlů, Ph.D.
• Vyučující: doc. RNDr. Jan Wild, CSc.

Anotace

čeština

Výměna náboje mezi ionty a povrchem, spektroskopie založené na principu neutralizace dopadajících iontů (INS) a rozptylu iontů (ISS). Iontové odprašování, hloubkové profily. Hmotnostní spektroskopie sekundárních iontů (SIMS). Rozptyl neutrálních částic na povrchu PL. Elektronově stimulovaná desorpce.

Poslední úprava: T_KEVF (21.03.2003)

angličtina

Charge exchange between ions and surface, spectroscopy based on a principies of neutralization incident ions (INS) and ion scattering (ISS). Ion sputtering, depth profiling. Secondary ion mass spectroscopy (SIMS). Neutral particles scattering on the surfaces. Electron stimulated desorption.

Poslední úprava: T_KEVF (21.03.2003)

Podmínky zakončení předmětu

Podmínkou zakončení předmětu je úspěšné složení zkoušky, tj. hodnocení zkoušky známkou "výborně", "velmi dobře" nebo "dobře". Zkouška musí být složena v období předepsaném harmonogramem akademického roku, ve kterém student předmět zapsal.

Poslední úprava: Pavlů Jiří, doc. RNDr., Ph.D. (14.06.2019)

Literatura

D.P. Woodruff, T.A. Delchar: Modern Techniques of Surface Science, University Press, Cambridge, Great Britain, 1986 .

L. Frank, J. Král (editors): Metody analýzy povrchů III: Iontové, sondové a speciální metody, ACADEMIA, Praha 2002.

Poslední úprava: T_KEVF (16.05.2005)

Metody výuky

čeština

Výuka v ZS 2020 probíhá formou on-line přednášek. Více informací viz https://physics.mff.cuni.cz/kfpp/rozvrh.html

Poslední úprava: Roučka Štěpán, doc. RNDr., Ph.D. (06.10.2020)

angličtina

The lecture is conducted on-line in the winter semester 2020. For more information, see https://physics.mff.cuni.cz/kfpp/rozvrh.html

Poslední úprava: Roučka Štěpán, doc. RNDr., Ph.D. (06.10.2020)

Požadavky ke zkoušce

Zkouška probíhá ústně, otázky pokrývají sylabus v předneseném rozsahu.

Poslední úprava: Pavlů Jiří, doc. RNDr., Ph.D. (18.10.2017)

Sylabus

čeština

1. Metody založené na dopadu iontů

2. Výměna náboje mezi ionty a povrchem.
Spektroskopie založené na principu neutralizace dopadajících iontů (INS). Neutralizace Augerovým přechodem, de-excitace, experimentální uspořádání.

3. Iontový rozptyl (ISS)
Strukturní jevy, instrumentace.

4. Iontové odprašování, hloubkové profily
Kolizní kaskáda, odprašovací výtěžek, hloubkové rozlišení.

5. Hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů (SIMS)
Iontový výtěžek, energetické rozdělení SI, detekční limit, statický SIMS, kvantifikace, instrumentace.

6. Elektronově stimulovaná desorpce (ESD).
Základní principy, instrumentace, metoda TOF-ESD úhlově rozlišená elektronově stimulovaná desorpce iontů (ESDIAD).

7. Rozptyl svazků atomů a molekul.
Interakce svazku s povrchem, pružný a nepružný rozptyl, instrumentace.

8. Další metody založené na iontové spektroskopii

Poslední úprava: T_KEVF (16.05.2005)

angličtina

1. Methods based on the ion impact

2. Charge exchange between ions and surface
Spectroscopy based on a neutralisation of incident ions (Ion Neutralisation Spectroscopy). Neutralisation by means of Auger transfer, deexcitation, experimental arrangement.

3. Ion scattering, methods based on it
Ion Scattering Spectroscopy and its modifications (LEIS, HEIS).

4. Ion sputtering, depth profiling
Collision cascade, sputtering yield, depth resolution.

5. Secondary Ion Mass Spectroscopy (SIMS)
Ion yield, energy spectrum of secondary ions, static and dynamical SIMS. Experimental arrangement.

6. Electronically Stimulated Desorption (ESD)
Principles, arrangement, detection. Time-of-flight and other analysis techniques.

7. Atomic and molecular beam scattering
Beam - surface interaction, elastic and non-elastic scattering, instrumentation.

8. Other methods based on the ion spectroscopy

Poslední úprava: T_KEVF (16.05.2005)