PředmětyPředměty(verze: 845)
Předmět, akademický rok 2018/2019
   Přihlásit přes CAS
Elektronová difrakce - NEVF136
Anglický název: Electron Diffraction
Zajišťuje: Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP)
Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
Platnost: od 2005 do 2019
Semestr: letní
E-Kredity: 3
Rozsah, examinace: letní s.:2/0 Zk [hodiny/týden]
Počet míst: neomezen
Minimální obsazenost: neomezen
Stav předmětu: vyučován
Jazyk výuky: čeština
Způsob výuky: prezenční
Garant: doc. RNDr. Karel Mašek, Dr.
Anotace -
Poslední úprava: T_KEVF (16.05.2005)
Struktura pevných látek, základy krystalografie, prvky souměrnosti, rovinné a prostorové krystalové mříže, krystalové soustavy, Millerovy indexy. Teorie elektronové difrakce, geometrický a strukturní faktor, reciproká mříž, Ewaldova konstrukce, vyhodnocování difrakčních obrazců. Transmisní elektronová mikroskopie a difrakce, LEED, RHEED, XPD. Aplikace elektronové difrakce ve fyzice tenkých vrstev.
Literatura
Poslední úprava: doc. RNDr. Karel Mašek, Dr. (28.02.2018)

V. Valvoda, Milena Polcarová, Pavel Lukáč, Základy strukturní analýzy, Karolinum, Praha 1992.

I. Kraus, Struktura a vlastnosti krystalů, Academia, Praha 1993.

Ch. Kittel, Úvod do fyziky pevných látek, Academia, Praha 1985.

L. Eckertová a kol., Metody analýzy povrchů, elektronová mikroskopie a difrakce, Academia, Praha 1996.

B. Smola, Transmisní elektronová difrakce ve fyzice pevných látek, SPN Praha, Praha 1983.

W. Braun, Applied RHEED - Reflection High-Energy Electron Diffraction during crystal growth, Springer - Verlag, Heidelberg 1999.

Požadavky ke zkoušce
Poslední úprava: doc. RNDr. Karel Mašek, Dr. (28.02.2018)

Zkouška sestává z písemné a ústní části. Písemná část je formou testu a předchází části ústní. Alespoň vyhovující složení písemné části zkoušky je podmínkou pro pokračování ústní části zkoušky. V případě nesložení pouze ústní části zkoušky se již při příštím termínu písemná část zkoušky neopakuje. Známka ze zkoušky se stanovuje na základě hodnocení obou jejích částí.

Písemná část zkoušky sestává z několika otázek a příkladů podobných těm probíraným a řešeným v průběhu přednášky. Požadavky u ústní části zkoušky odpovídají sylabu předmětu v rozsahu, který byl prezentován na přednášce.

Sylabus -
Poslední úprava: T_KEVF (16.05.2005)
1. Struktura pevných látek, základy krystalografie
Historie, klasická definice krystalu, makroskopická souměrnost krystalů, prvky souměrnosti a jejich značení, stereografická projekce, bodové grupy, rovinné a prostorové krystalové mříže, krystalové soustavy, značení směrů a rovin, Millerovy indexy, Miller-Bravaisovy indexy, mezirovinné vzdálenosti, základní typy krystalových struktur.

2. Elektronová difrakce
Geometrická teorie difrakce, Laueho difrakční podmínky, Braggův zákon, kinematická teorie difrakce, geometrický a strukturní faktor, reciproká mříž, Ewaldova konstrukce, dynamické teorie, vyhodnocování difrakčních obrazců, profilová analýza.

3. Metody elektronové difrakce
LEED - difrakce nízkoenergetických elektronů, RHEED - difrakce vysokoenergetických elektronů na odraz, TEM - transmisní elektronová mikroskopie a difrakce, XPD - fotoelektronová difrakce.

4. Aplikace elektronové difrakce ve fyzice tenkých vrstev
Ostrůvkové struktury, modelové katalyzátory a senzory, tenké vrstvy.

 
Univerzita Karlova | Informační systém UK