Měřicí metody elektrických vlastností polovodivých a nevodivých materiálů - NBCM211

• Anglický název: Methods of Measuring Electric Properties of Semiconducting and Insulating Materials
• Zajišťuje: Katedra makromolekulární fyziky (32-KMF)
• Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
• Platnost: od 2018
• Semestr: zimní
• E-Kredity: 3
• Rozsah, examinace: zimní s.:1/1, Z+Zk [HT]
• Počet míst: neomezen
• Minimální obsazenost: neomezen
• 4EU+: ne
• Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
• Stav předmětu: vyučován
• Jazyk výuky: čeština
• Způsob výuky: prezenční
• Garant: RNDr. Jan Prokeš, CSc.; doc. RNDr. Jaromír Fähnrich, CSc.
• Vyučující: doc. RNDr. Jaromír Fähnrich, CSc.; RNDr. Jan Prokeš, CSc.

Anotace

čeština

Měřicí metody vodivosti a dalších transportních jevů (pohyblivost, termoelektrická síla), difúzní délka a doba života nosičů nábojů, střídavá a časová měření.dielektrických charakteristik.

Poslední úprava: T_KMF (23.05.2006)

angličtina

Measurement methods for conductivity and other transport phenomena (mobility, thermoelectric voltage), diffusion length and life time of charge carriers, AC and time domain measurements of dielectric properties

Poslední úprava: T_KMF (23.05.2006)

Podmínky zakončení předmětu

čeština

Ústní zkouška

Poslední úprava: Prokeš Jan, RNDr., CSc. (13.06.2019)

angličtina

Oral exam

Poslední úprava: Prokeš Jan, RNDr., CSc. (13.06.2019)

Literatura

čeština

F. Kremer, A. Schönhals (eds.): Broadband Dielectric Spectroscopy, Springer 2003, kapitola 2 (případně 3, 12 a 13)

J.P. Rundt, J.J. Fitzgerald (eds.): Dielectric Spectroscopy of Polymeric Materials, American Chemical Society 1997, kapitola 2

D.K. Schroder: Semiconductor Material and Device Characterization, John Wiley & Sons, Inc. 1998, kapitoly 1.2, 2.2, 2.5

Keithley: Low Level Measurements Handbook, 5th edition, Keithely Instruments, Inc. 1998

M. Honda: The Impedance Measurement Handbook, Yokogawa-Hewlett-Packard LTD. 1989

Poslední úprava: T_KMF (23.05.2006)

angličtina

F. Kremer, A. Schönhals (eds.): Broadband Dielectric Spectroscopy, Springer 2003, part 2 (also parts 3, 12 a 13)

J.P. Rundt, J.J. Fitzgerald (eds.): Dielectric Spectroscopy of Polymeric Materials, American Chemical Society 1997, part 2

D.K. Schroder: Semiconductor Material and Device Characterization, John Wiley & Sons, Inc. 1998, parts 1.2, 2.2, 2.5

Keithley: Low Level Measurements Handbook, 5th edition, Keithely Instruments, Inc. 1998

M. Honda: The Impedance Measurement Handbook, Yokogawa-Hewlett-Packard LTD. 1989

Poslední úprava: Prokeš Jan, RNDr., CSc. (13.06.2019)

Požadavky ke zkoušce

čeština

Zkouška sestává z ústní části. Požadavky u zkoušky odpovídají sylabu předmětu v rozsahu, který byl prezentován na přednášce.

Poslední úprava: Prokeš Jan, RNDr., CSc. (13.06.2019)

angličtina

The exam is oral. Requirements for the exam correspond to the syllabus of the course to the extent presented at the lecture.

Poslední úprava: Prokeš Jan, RNDr., CSc. (13.06.2019)

Sylabus

čeština

Měření elektricke vodivosti
Základní metody měření elektrické vodivosti, vliv kontaktu, charakteristiky přístrojů (elektrometr, pikoampérmetr, nanovoltmetr).

Měření ostatních transportních vlastností
Měření Hallovy konstanty, termoelektrické síly, tepelné vodivosti. Studium koncentrace nositelů.

Střídavé měřicí metody
Základy měření impedance, vliv parazitních hodnot - skutečná, efektivní a indikovaná hodnota, přehled měřicích metod, princip mostu s automatickým vyrovnáním, způsoby připojení vzorku, eliminace parazitních hodnot, kalibrace a kompenzace, příklady měření a přístrojů.

Měření časových závislostí v dielektrikách
Izotermická měření časových závislostí proudu a jejich vyhodnocení. Termostimulační metody měření.

Poslední úprava: T_KMF (23.05.2006)

angličtina

Electrical conductivity measurement
Basic methods of electrical conductivity measurement, the influence of contacts, features of devices (electrometer, picoammeter, nanovoltmeter)

Other transport properties measurement
Measurements of Hall constant, thermoelectric power and thermal conductivity. Charge carriers concentration study.

AC methods of measurement
Basics of impedance measurement, influence of parasitic values - real, effective and indicated value, survey of methods of measurement, autobalance bridge principle, ways of connecting the sample, parasitic values elimination, calibration and compensation, examples of the measurements and devices

Measurement of time dependencies in dielectrics
Isothermal measurements of current-time dependencies and their evaluation. Thermostimulated measurement methods.

Poslední úprava: T_KMF (23.05.2006)