Základní charakterizační metody používané v optice a optoelektronice. Na předmětu se podílí několik vyučujících.
Praktické části bezprostředně navazují na jednotlivé přednášky a mají spíše demonstrační charakter.
Poslední úprava: T_KFES (23.04.2009)
Basic characterization methods used in optics and optoelectronics. On
the subject involved several teachers. Practical parts are directly
connected with individual lectures and they are rather demonstrative
character.
Poslední úprava: T_KFES (29.04.2016)
Podmínky zakončení předmětu
Ústní zkouška
Poslední úprava: Belas Eduard, prof. Ing., CSc. (10.06.2019)
Požadavky ke zkoušce
Požadavky u ústní části zkoušky odpovídají sylabu předmětu v rozsahu, který byl prezentován na přednášce.
Poslední úprava: Belas Eduard, prof. Ing., CSc. (10.06.2019)
Sylabus -
Soubor přednášek, praktických cvičení a exkurzí zahrnujících tyto oblasti: Metody přípravy polovodičových materiálů. Elektrické a optické metody charakterizace pevnych látek, s důrazem na polovodiče. Některá praktická cvičení jsou organizována formou exkurze na různá mimofakultní výzkumná pracoviště v Praze.
Poslední úprava: T_KFES (29.04.2016)
Group of lectures, exercises and excursions covers following topics: Methods of the preparation of semiconductors. Electrical and optical methods of the characterization of solid-state materials, mainly semiconductors. Some excursions proceed in the form of excursion to the external research institutions in Prague.
