Application of kinematic and dynamic diffraction theory to study of the structure and morphology
of polycrystalline, nanocrystalline and amorphous thin films and low-dimensional structures.
High-angle and low-angle scattering. Fundamentals of dynamic theory of diffraction and their
applications for the study of epitaxial layers. Basic experimental techniques used for X-ray diffraction study
of real structure of thin films.
Last update: T_KFES (23.05.2003)
Aplikace kinematické a semikinematické teorie difrakce záření při studiu struktury a
morfologie polykrystalických, nanokrystalických a amorfních tenkých vrstev a nízkodimensionálních struktur.
Vysokoúhlový a maloúhlový rozptyl záření. Základy dynamické teorie difrakce a její aplikace pro
studium struktury epitaxních vrstev. Základní experimentální techniky používané pro rtg. difrakční studium
reálné struktury tenkých vrstev.
Course completion requirements -
Last update: prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc. (12.05.2023)
Oral and written part. Written part consists in solution of simple problem without long calculations (max. 30 min). Oral part follows the problem (max. 45 min).
Last update: prof. RNDr. Václav Holý, CSc. (29.04.2019)
Zkouška se sestává z písemné a ústní části. Písemná část spočívá ve vyřešení velmi snadného problému, který nevyžaduje dlouhé počítání (max. 30 min). Ústní část navazuje na řešení zmíněného problému a trvá max. 45 min. Známka zkoušky se stanoví ze souhrnného hodnocení písemné a ústní části. Požadavky zkoušky odpovídají skutečně odpřednášené části sylabu.
Literature -
Last update: prof. RNDr. Václav Holý, CSc. (29.04.2019)
Jens Als-Nielsen, Des McMorrow: Elements of Modern X-Ray Physics, Wiley 2011
Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach: High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures, Springer 2004
Last update: Mgr. Kateřina Mikšová (14.05.2019)
Jens Als-Nielsen, Des McMorrow: Elements of Modern X-Ray Physics, Wiley 2011
Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach: High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures, Springer 2004
Requirements to the exam - Czech
Last update: prof. RNDr. Václav Holý, CSc. (29.04.2019)
Požadavky zkoušky odpovídají skutečně odpřednášené části sylabu.
Syllabus -
Last update: prof. RNDr. Václav Holý, CSc. (29.04.2019)
Application of kinematic and dynamic diffraction theory to study of the structure and morphology
of polycrystalline, nanocrystalline and amorphous thin films and low-dimensional structures.
High-angle and low-angle scattering. Fundamentals of dynamic theory of diffraction and their
applications for the study of epitaxial layers. Basic experimental techniques used for X-ray diffraction study
of real structure of thin films.
Last update: prof. RNDr. Václav Holý, CSc. (29.04.2019)
Aplikace kinematické a semikinematické teorie difrakce záření při studiu struktury a
morfologie polykrystalických, nanokrystalických a amorfních tenkých vrstev a nízkodimensionálních struktur.
Vysokoúhlový a maloúhlový rozptyl záření. Základy dynamické teorie difrakce a její aplikace pro
studium struktury epitaxních vrstev. Základní experimentální techniky používané pro rtg. difrakční studium
