Technology of preparation of crystals and thin films. Structure and properties of thin films (thickness, roughness,
surface energy, stresses, textures etc.). Study of nanoparticles. Dznamic light scattering, Raman and
infrared spectroscopy. Other selected spectroskopic and nuclear methods. Excursions.
Principles and characteristics of individual methods, their possibilities and restrictions. In practical part typical
tasks for the methods.
Last update: Mgr. Kateřina Mikšová (14.05.2019)
Technologie přípravy krystalů a tenkých vrstev. Struktura a vlastnosti tenkých vrstev (tloušťka, drsnost, povrchová
energie, napětí, textury atd.). Studium nanočástic. Rozptyl světla (DLS), Ramanova a IČ spektroskopie. Další
vybrané spektroskopické a jaderné metody. Exkurze.
V předmětu jsou uvedeny principy a charakteristiky jednotlivých metod, jejich možnosti a případná omezení. V
praktické části budou studenti seznámeni s typickými demonstračními úlohami k jednotlivým skupinám metod. Na
přednáškách i cvičeních se podílí několik vyučujících
Syllabus -
Last update: T_KFES (21.05.2004)
I. Atomic structure
Surface crystallography, symmetry, reciprocal lattice, relaxation, reconstruction.
LEED, Ewald construction, diffraction pattern, kinematic and dynamic theory of intensity determination
II. Electronic structure
one-particle approach. Tamm and Shockley surface states, complex bend structure, surface electronic states
many-particles approach
photoelectron spectroscopy
photoemission
Last update: prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc. (22.09.2014)
Růst krystalů
Příprava tenkých vrstev. Měření tloušťky tenkých vrstev, drsnosti a povrchové energie.
Elipsometrie.
Struktura povrchů a tenkých vrstev. Napětí a přednostní orientace. Studium napětí a textur v tenkých vrstvách, měření reflektivity
