Introduction in near field scanning microscopy methods (STM, AFM, SNOM) and related techniques. Physical principles, applications in physics of thin films and surfaces, advantages and limits. Comparison with traditional electron microscopy techniques (TEM, SEM), field emission and field ion microscopes (FEM, FIM) and LEEM technique. The latest modifications and applicability of microscopy techniques.
Last update: T_KEVF (07.05.2005)
Základy rastrovacích mikroskopií v blízkém poli (STM, AFM, SNOM) a dalších odvozených technik. Fyzikální principy, oblasti použití ve fyzice povrchů a tenkých vrstev, výhody a omezení. Srovnání s tradičními technikami elektronových mikroskopií (TEM, SEM), mikroskopy FEM, FIM a LEEM. Nejnovější modifikace a možnosti mikroskopických technik.
Literature - Czech
Last update: T_KEVF (07.05.2005)
Wiesendanger R. and Güntherodt H.-J., Scanning Tunneling Microscopy II (Further Applications and Related Scanning Techniques), 2nd. ed., Springer Series in Surf. Sci. 28, Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, 1995.
Bai Ch., Scanning Tunneling Microscopy and its Application, Springer Series in Surf.Sci. 32, Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, N.Y., 1992.
Metody analýzy povrchů: iontové, sondové a speciální metody. Editoři: L. Frank, J. Král, Academia, Praha 2002.
Syllabus -
Last update: T_KEVF (13.05.2005)
1. Introduction to near field microscopy techniques
Physical principles of near field microscopy techniques: scanning tunneling microscopy (STM), atomic force microscopy (AFM), scanning near field optical microscopy (SNOM). Other related techniques: scanning tunneling spectroscopy - STS, ballistic electron emission microscopy - BEEM, scanning tunneling potentiometry - SPT, scanning noise microscopy - SNM, scanning capacitance microscopy, scanning noise microscopy and scanning thermal microscopy. Other scanning force microscopy techniques: magnetic force (MFM) and electric force (EFM) microscopies, DC and AC techniques, contact, semi-contact and non-contact modes, single and multiple path techniques.
2. Physical principles, applications
Resolution, modes of measurement, construction. Application in surface and thin films physics, comparison with other techniques - transmission electron microscopy (TEM), scanning electron microscopy (SEM), field emission microscopy (FEM), field ion microscopy, low energy electron microscopy (LEEM).
3. Latest modifications
The latest modifications and applicability of microscopy techniques in study of surfaces and thin films.
Last update: T_KEVF (13.05.2005)
1. Základy rastrovacích mikroskopií v blízkém poli (STM, AFM, SNOM) a dalších technik
Fyzikální principy mikroskopií v blízkém poli: rastrovací tunelová mikroskopie (STM), mikroskopie atomárních sil (AFM), optické rastrovací mikroskopie v blízkém poli (SNOM). Techniky odvozené od STM: spektroskopie tunelujících elektronů - STS, mikroskopie balisticky emitovaných elektronů - BEES, rastrovací tunelová potenciometre a šumová mikroskopie, kapacitní tunelová mikroskopie, rastrovací tunelový teploměr. Modifikace techniky AFM - rastrovací silové mikroskopie (SFM): mikroskopie magnetických (MFM) a elektrostatických sil (EFM), techniky stejnosměrné a střídavé, kontaktní, semi-kontaktní a nekontaktní, jedno- a víceprůchodové.
2. Fyzikální principy, oblasti použití ve fyzice povrchů a tenkých vrstev, výhody a omezení
Rozlišovací schopnost, mody měření, otázky konstrukce a provozu rastrovacích mikroskopů v blízkém poli, využití ve fyzice povrchů a tenkých vrstev.
3. Srovnání s tradičními technikami elektronových mikroskopií
Srovnání s dalšími technikami - transmisní elektronová mikroskopie (TEM), rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), autoemisní mikroskop (FEM), iontový projektor (FIM) a mikroskopie pomalými elektrony (LEEM). Nejnovější modifikace a možnosti mikroskopických technik při studiu povrchů a tenkých vrstev.
