SubjectsSubjects(version: 945)
Course, academic year 2023/2024
   Login via CAS
Introduction to deposition and characterization of thin films - NBCM237
Title: Základy přípravy a charakterizace tenkých vrstev
Guaranteed by: Department of Macromolecular Physics (32-KMF)
Faculty: Faculty of Mathematics and Physics
Actual: from 2020
Semester: summer
E-Credits: 4
Hours per week, examination: summer s.:1/2, C+Ex [HT]
Capacity: unlimited
Min. number of students: unlimited
4EU+: no
Virtual mobility / capacity: no
State of the course: taught
Language: Czech, English
Teaching methods: full-time
Teaching methods: full-time
Guarantor: doc. Mgr. Jan Hanuš, Ph.D.
prof. Ing. Andrey Shukurov, Ph.D.
Annotation - Czech
Last update: Marcela Búryová (14.05.2024)
V rámci předmětu se studenti seznámí se základy přípravy tenkých vrstev s využitím nízkoteplotního plazmatu a s jejich charakterizací. Po teoretickém úvodu do problematiky bude výuka probíhat přímo v laboratořích KMF, kde se studenti seznámí s prací na automatizované depoziční aparatuře umožňující přípravu tenkých vrstev kovů, oxidů kovů a plazmových polymerů. Předmět má experimentální charakter.
Literature -
Last update: Marcela Búryová (14.05.2024)

[1] H. Biederman: Plasma Polymer Films. Imperial College Press, London 2004

[2] H. Biederman, Y.Osada: Plasma Polymerisation Processes. Elsevier, Amsterdam 1992

[3] M. Vůjtek, R. Kubínek, M. Mašláň: Nanoskopie, Univ. Palackého Olomouc 2012

[4] N. Fairley: CasaXPS Manual, www.casaxps.com

Requirements to the exam -
Last update: Marcela Búryová (14.05.2024)

The exam is oral. If the COVID restrictions are lifted, the exam will be held in person. The condition for granting credit and passing the exam is systematic attendance. The exam requirements correspond to the syllabus of the subject to the extent presented at the lecture.

Syllabus -
Last update: Marcela Búryová (14.05.2024)

1) Definition of terms thin layer, low-temperature plasma, vacuum

2) Introduction to the issue of vacuum deposition of thin films - evaporation, magnetron sputtering, reactive magnetron sputtering, plasma polymerization

3) Measurement of optical properties and thickness of thin films - spectroscopic ellipsometry

4) Methods of chemical analysis of surfaces - XPS, FTIR, EDX

5) Investigation of surface morphology - AFM, SEM

6) Measurement of mechanical properties using nanoindentation

7) Measurement of wettability and surface energy

 
Charles University | Information system of Charles University | http://www.cuni.cz/UKEN-329.html