Semiconductor Measurement Methods - NFPL020

• Title: Měřicí metody polovodičů
• Guaranteed by: Department of Macromolecular Physics (32-KMF)
• Faculty: Faculty of Mathematics and Physics
• Actual: from 2001 to 2016
• Semester: both
• E-Credits: 3
• Hours per week, examination: 2/0, Ex [HT]
• Capacity: unlimited
• Min. number of students: unlimited
• 4EU+: no
• Virtual mobility / capacity: no
• State of the course: taught
• Language: Czech
• Teaching methods: full-time
• Teaching methods: full-time
• Note: you can enroll for the course in winter and in summer semester
• Guarantor: RNDr. Jan Prokeš, CSc.
• Classification: Physics > Solid State Physics
• Is co-requisite for: NFPL047

Annotation

English

Last update: T_KMF (18.05.2001)

Sample preparation, measurement methods of conductivity and others transport phenomena, diffusion length and lifetime of charge carriers, determination of basic parameters of defects in semiconductors, capacitance, photoelectric and optical methods.

Czech

Last update: T_KMF (16.05.2001)

Příprava vzorků, povrchů a kontaktů, metody měření elektrické vodivosti a dalších transportních jevů. Základní parametry nerovnovážných nositelů proudu, doba života, difúzní délka, stanovení základních parametrů poruch v polovodičích, kapacitní metody, fotoelektrické a optické metody.

Syllabus

Last update: RNDr. Jan Prokeš, CSc. (13.06.2019)

1. Měření impedance.
Základy měření impedance, vliv parazitních hodnot - skutečná, efektivní a indikovaná hodnota, přehled měřicích metod, princip mostu s automatickým vyrovnáním, způsoby připojení vzorku, eliminace parazitních hodnot, kalibrace a kompenzace, příklady měření a přístrojů.

2. Měření malých napětí, malých proudů a velkých odporů.
Charakteristika elektrometru, pikoampermetru a nanovoltmetru, přesnost měření, charakteristika izolačních materiálů, vliv jejich parazitních efektů, význam stínění a guardování, princip triaxového připojení, šum a drift.

3. Měření transportních jevů.
Problematika kontaktů, obecné podmínky měření, metody měření koncentrace nositelů proudu, elektrické vodivosti, Hallovy konstanty, termoelektrické síly, tepelné vodivosti.

4. Měření základních parametrů nerovnováŚných nositelů proudu.
Měření doby života, měření difúzní délky, měření povrchové rekombinace.

5. Stanovení základních parametrů parametrů poruch v polovodičích.
Vymezení pojmů, přehled měřicích metod, jejich srovnání, specifika kapacitních metod, přednosti a příklady použití.

6. Problematika šumu.
Typy šumu, zdroje, matematický popis, metody měření šumu.