Methods of Physics of Surfaces and Thin Films I - NEVF515

• Title: Metody fyziky povrchů a tenkých vrstev I
• Guaranteed by: Department of Surface and Plasma Science (32-KFPP)
• Faculty: Faculty of Mathematics and Physics
• Actual: from 2011 to 2018
• Semester: summer
• E-Credits: 3
• Hours per week, examination: summer s.:2/0, Ex [HT]
• Capacity: unlimited
• Min. number of students: unlimited
• 4EU+: no
• Virtual mobility / capacity: no
• State of the course: taught
• Language: Czech
• Teaching methods: full-time
• Teaching methods: full-time
• Guarantor: doc. Mgr. Josef Mysliveček, Ph.D.; prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc.
• Class: DS, fyzika povrchů a rozhraní
• Classification: Physics > Surface Physics and P. of Ion.M.

Annotation

English

Last update: T_KEVF (27.05.2002)

The course of electron spectroscopy is intended exclusively for graduate students, who need to acquire comprehensive knowledge of electron spectroscopic methods of surface analysis of solids. It deals namely with Auger Electron Spectroscopy, X-ray and Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy and Electron Energy Loss Spectroscopy, but also with less widely used methods like Elastic Peak Electron Spectroscopy, Appearance Potential Spectroscopy and Inverse or Two-photon Photoelectron Spectroscopy. Their principles and experimental set-ups as well as the issues of both qualitative and quantitative surface analysis are treated in detail.

Czech

Last update: T_KEVF (09.05.2011)

V rámci přednášky bude posluchačům představeno spektrum experimentálních metod fyziky povrchů na příkladech aktuálních problémů řešených v současné fyzice povrchů. Přednáška je zaměřena na metody integrální a metody pracující v dalekém poli, které umožňují analýzu povrchů a tenkých vrstev v oblastech morfologie, krystalové struktury, elektronové struktury, chemického stavu a chemické reaktivity.

Literature

Last update: T_KEVF (24.05.2007)

Stefan Hufner: Photoelectron Spectroscopy, Principles and Aplications, Springer Verlag, 2006

Andrew Zangwill: Physics at Surfaces, Cambridge University Press, Cambridge 1992

Syllabus

English

Last update: T_KEVF (06.05.2009)

Photoelectron spectroscopy (PES), synchrotron radiation PES, analysis of satellites, resonance PES, EXAFS, photoelectron diffraction, local structure study, angle resolved ultraviolet PES (ARUPS), band mapping, depth profiling by angle and energy resolved PES, high energy PES (HAXPES).

Czech

Last update: T_KEVF (09.05.2011)

Elektronově optické mikroskopie - Transmisní elektronová mikroskopie (TEM), mikroskopie pomalých elektronů (LEEM), mikroskopie fotoelektronů (PEEM). Difrakce - pomalých elektronů (LEED), analýza energetických křivek (IV-LEED), analýza profilu stop (SPA-LEED), rychlých elektronů (RHEED), fotoelektronů (XPD), rentgenová (XRD, XSW). Spektroskopie ztráty energie elektronů (EELS), infračervené spektroskopie (RAIRS, SERS). Fotoelektronová spektroskopie - buzená rentgenovými paprsky (XPS), vysoce energetickými rentgenovými paprsky (HXPS), synchrotroonovým zářením (SRPES), ultrafialovými paprsky (UPS), úhlově rozlišená (ARPES), spinově polarizovaná (SP-XPS), inverzní (IPS).