|
|
|
||
Last update: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (29.04.2016)
|
|
||
Last update: RNDr. Jitka Stráská, Ph.D. (14.06.2019)
Zápočet je udělován na základě aktivní účasti na cvičení (výuce na skenovacím elektronovém mikroskopu na Katedře fyziky materiálů). |
|
||
Last update: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (23.04.2014)
Joseph Goldstein: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Springer, 2003. |
|
||
Last update: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (29.04.2016)
Sample preparation for electron microscopy . Basic principles and controlling of scanning electron microscope. Imaging using secondary and back-scattered electrons. Chemical analysis by means of EDX and WDX. Analysis of crystallographic orientation and texture by means of EBSD. |