SubjectsSubjects(version: 845)
Course, academic year 2018/2019
   Login via CAS
X-ray Study of Real Structure of Thin Films - NFPL149
Title in English: Rentgenografické studium reálné struktury tenkých vrstev
Guaranteed by: Department of Condensed Matter Physics (32-KFKL)
Faculty: Faculty of Mathematics and Physics
Actual: from 2017 to 2019
Semester: summer
E-Credits: 3
Hours per week, examination: summer s.:2/0 Ex [hours/week]
Capacity: unlimited
Min. number of students: unlimited
State of the course: taught
Language: English
Teaching methods: full-time
Additional information: http://htp://krystal.karlov.mff.cuni.cz/FPL149
Guarantor: prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc.
prof. RNDr. Václav Holý, CSc.
Annotation -
Last update: T_KFES (23.05.2003)
Application of kinematic and dynamic diffraction theory to study of the structure and morphology of polycrystalline, nanocrystalline and amorphous thin films and low-dimensional structures. High-angle and low-angle scattering. Fundamentals of dynamic theory of diffraction and their applications for the study of epitaxial layers. Basic experimental techniques used for X-ray diffraction study of real structure of thin films.
Course completion requirements - Czech
Last update: prof. RNDr. Václav Holý, CSc. (29.04.2019)

Zkouška se sestává z písemné a ústní části. Písemná část spočívá ve vyřešení velmi snadného problému, který nevyžaduje dlouhé počítání (max. 30 min). Ústní část navazuje na řešení zmíněného problému a trvá max. 45 min. Známka zkoušky se stanoví ze souhrnného hodnocení písemné a ústní části. Požadavky zkoušky odpovídají skutečně odpřednášené části sylabu.

Literature -
Last update: prof. RNDr. Václav Holý, CSc. (29.04.2019)

Jens Als-Nielsen, Des McMorrow: Elements of Modern X-Ray Physics, Wiley 2011

Ullrich Pietsch, Vaclav Holy, Tilo Baumbach: High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures, Springer 2004

Requirements to the exam - Czech
Last update: prof. RNDr. Václav Holý, CSc. (29.04.2019)

Požadavky zkoušky odpovídají skutečně odpřednášené části sylabu.

Syllabus -
Last update: prof. RNDr. Václav Holý, CSc. (29.04.2019)

Application of kinematic and dynamic diffraction theory to study of the structure and morphology

of polycrystalline, nanocrystalline and amorphous thin films and low-dimensional structures.

High-angle and low-angle scattering. Fundamentals of dynamic theory of diffraction and their

applications for the study of epitaxial layers. Basic experimental techniques used for X-ray diffraction study

of real structure of thin films.

 
Charles University | Information system of Charles University | http://www.cuni.cz/UKEN-329.html