Surface crystallography. Methods - LEED, scattering of ions and atoms (ISS, RBS, ...). Microscopic methods (FIM, STM, AFM ...). X-ray structure analysis of polycrystalline and single crystal thin films.
Last update: T_KFES (23.05.2001)
Krystalografie povrchů. Přehled metod; difrakce pomalých elektronů a rtg
záření, rozptyl iontů a atomů, mikroskopické metody. Rtg strukturní
analýza tenkých polykrystalických a monokrystalických vrstev. Pro 1. a 2. nmgr.
Last update: Mikšová Kateřina, Mgr. (13.05.2019)
Course completion requirements -
Oral and written examination. Written aprt consists of solution of simple problem non-requiring long calculation (max. 30 min). Oral part follows and it is usually about 45 min.
Last update: Kužel Radomír, prof. RNDr., CSc. (12.05.2022)
Zkouška se sestává z písemné a ústní části. Písemná část spočívá ve vyřešení velmi snadného problému, který nevyžaduje dlouhé počítání (max. 30 min). Ústní část navazuje na řešení zmíněného problému a trvá max. 45 min. Známka zkoušky se stanoví ze souhrnného hodnocení písemné a ústní části. Požadavky zkoušky odpovídají skutečně odpřednášené části sylabu.
Last update: Holý Václav, prof. RNDr., CSc. (06.10.2017)
Literature - Czech
např. Ludmila Eckertová : Physics of Thin Films. Plenum Press New York, London, SNTL Prague 1986
Ludmila Eckertová : Metody analýzy povrchů (Experimentální metody fyziky pevných látek, svazek 4), Katedra fyziky kovů, Praha 1982
K.N.Tu a kol. : Analytical Techniques for Thin Films New York 1986
H.Oeschner : Thin Films and Depth Profile Analysis. Springer Verlag 1984
K.H.Rieder : \"Experimental Methods for Determining Surface Structures and Surface Corrugations\" v Topics in Current Physics vol.41 - \"Structure and Dynamics Of Surface I\"
D.P.Wooduff, T.A.Delchar : Modern Techniques of Surface Science (1986) Cambridge University Press
Surface Crystallography (1985). John Wiley & Sons
M.A. van Hove, S.Y.Tong : Surface Crystallography by LEED (1979) Springer
Springer Series in Chemical Physics vol.35 \" Chemistry and Physics of Solid Surfaces - V.\" Springer 1984
články v časopisechu a kol. : Analytical Techniques for Thin Films New York 1986
H.Oeschner : Thin Films and Depth Profile Analysis. Springer Verlag 1984
K.H.Rieder : \"Experimental Methods for Determining Surface Structures and Surface Corrugations\" v Topics in Current Physics vol.41 - \"Structure and Dynamics Of Surface I\"
D.P.Wooduff, T.A.Delchar : Modern Techniques of Surface Science (1986) Cambridge University Press
Surface Crystallography (1985). John Wiley & Sons
M.A. van Hove, S.Y.Tong : Surface Crystallography by LEED (1979) Springer
Springer Series in Chemical Physics vol.35 \" Chemistry and Physics of Solid Surfaces - V.\" Springer 1984
Diffraction of atoms - interaction of atoms with surface, experimental setup, applications (charge density distribution, hydrogen chemisorption, reconstruction, surfaces of insulators, incommensurate structures)
Ion scattering (ISS) - LEIS, MEIS, HEIS (RBS). Principles, peak intensity, study of atomic displacements, reconstructed and relaxed surface, adsorbates, interfaces, surface melting)
3. Spectroscopic methods
UPS, XPS, AES (structure information)
SEXAFS, NEXAFS Principles, study of local structure in disordered materials, study of bonding and orientation of adsorbed molecules, coordination numbers, chemisorption, interface solid-thin film).
4. Some other methods (ESDIAD, TSD, HREELS, ...)
5. Microscopy of surfaces
FEM (principle, tunneling, experimental setup, resolution, applications
FIM (principle, setup, resolution, atomic imaging)
STM (discovery, development, principle, modes of measurement, resolution, setup, applications)
HRTEM (basic differences from conventional TEM)
6. X-ray diffraction
Double- and triple crystal diffractometry (diffraction in perfect crystals, epitaxial layers - strains, composition, depth profiling)
Study of polycrystalline thin films. Structural pecularities of thin films, mechanical properties. Conventional powder diffraction (pahse analysis, texture, stress, strain, crystallite size). Stress determination. Low-angle diffraction. Examples, hard coatings.
Last update: T_KFES (26.05.2003)
FPL011
A. Struktura povrchů
Význam studia povrchů, povrchová relaxace a rekonstrukce, dvojrozměrné Bravaisovy mříže, Woodovo značení, maticové značení, nerovinné povrchy (schody a fazety), povrchové struktury, difrakce na povrchu (dvojrozměrné mříži), Ewaldova konstrukce, popis difrakčních svazků.
B. Metody studia struktury povrchů a tenkých vrstev
Metody přípravy čistých povrchů pro experimenty.
1. Difrakce elektronů a pozitronů.
LEED - základní charakteristiky a princip, experimentální uspořádání, rozptyl elektronů krystalem; mnohonásobný rozptyl, poruchy na povrchu, schody, fázové přechody. Teplotní efekty a dynamika povrchů (Debyeův-Wallerův faktor, anizotropie). MEED, RHEED a LEPD - principy a užití.
2. Rozptyl atomů a iontů.
Difrakce atomů -interakce atomů s povrchem, experimentální zařízení, aplikace (rozdělení nábojové hustoty, chemisorpce vodíku, rekonstrukce, povrchy izolantů, nesouměřitelné vrstvy). Rozptyl iontů (ISS) - LEIS, MEIS, HEIS (RBS) (princip, intenzita píků, studium výchylek atomů, rekonstruovaný a relaxovaný povrch, adsorbáty, čisté povrchy, rozhraní, epitaxe, povrchové tání).
3. Spektroskopické metody.
- UPS, XPS, AES; strukturní informace. - SEXAFS a NEXAFS (princip metod, možnost studia lokální struktury na neuspořádaných látkách, studium vazeb a orientací adsorbovaných; molekul, koordinační čísla; atomová a molekulová chemisorpce, struktura rozhraní pevná látka-vrstva).
4. Některé další metody (ESDIAD, TSD, HREELS, ...).
5. Mikroskopie povrchů.
- FEM (princip, tunelový jev, experimentální zařízení, rozlišení, užití) - FIM (princip, přístroj, rozlišení, obrazy atomů a poruch) - STM, AFM a další varianty (objev a vývoj, princip, režimy měření, rozlišení, experimentální výsledky) - HRTEM (základní odlišnosti od konvenční TEM)
6. Rozptyl rentgenového záření.
Dvoj- a trojkrystalová difraktometrie (základy difrakce v dokonalých krystalech epitaxní vrstvy - pnutí, složení, hloubkové profily). Metody tečného dopadu - glancing angle (totální odraz, amorfní velmi tenké vrstvy na povrchu, implantované vrstvy, povrchy), GID (grazing incidence diffraction). Metoda stojatých vln (sekundární jevy při absorpci rtg záření, registrace fotoelektronů, fotoemise, fluorescence, Comptonův a teplotní difúzní rozptyl). Studium polykrystalických vrstev - strukturní zvláštnosti tenkých vrstev, mechanické vlastnosti, konvenční prášková difraktometrie (fázová analýza, mřížové parametry, textury, mikrodeformace, velikosti krystalitů), měření zbytkových napětí. Difrakce při nízkých úhlech. Příklady, nitridové vrstvy.
