Basic characterization methods used in optics and optoelectronics. On
the subject involved several teachers. Practical parts are directly
connected with individual lectures and they are rather demonstrative
character.
Last update: T_KFES (29.04.2016)
Základní charakterizační metody používané v optice a optoelektronice. Na předmětu se podílí několik vyučujících.
Praktické části bezprostředně navazují na jednotlivé přednášky a mají spíše demonstrační charakter.
Last update: T_KFES (23.04.2009)
Course completion requirements - Czech
Ústní zkouška
Last update: Belas Eduard, prof. Ing., CSc. (10.06.2019)
Requirements to the exam - Czech
Požadavky u ústní části zkoušky odpovídají sylabu předmětu v rozsahu, který byl prezentován na přednášce.
Last update: Belas Eduard, prof. Ing., CSc. (10.06.2019)
Syllabus -
Group of lectures, exercises and excursions covers following topics: Methods of the preparation of semiconductors. Electrical and optical methods of the characterization of solid-state materials, mainly semiconductors. Some excursions proceed in the form of excursion to the external research institutions in Prague.
Last update: T_KFES (29.04.2016)
Soubor přednášek, praktických cvičení a exkurzí zahrnujících tyto oblasti: Metody přípravy polovodičových materiálů. Elektrické a optické metody charakterizace pevnych látek, s důrazem na polovodiče. Některá praktická cvičení jsou organizována formou exkurze na různá mimofakultní výzkumná pracoviště v Praze.
