Magnetooptická spektroskopická elipsometrie tenkých kovových filmů
| Thesis title in Czech: | Magnetooptická spektroskopická elipsometrie tenkých kovových filmů |
|---|---|
| Thesis title in English: | Magnetooptical spectroscopic ellipsometry of thin metallic films |
| Academic year of topic announcement: | 2010/2011 |
| Thesis type: | project |
| Thesis language: | |
| Department: | Institute of Physics of Charles University (32-FUUK) |
| Supervisor: | RNDr. Roman Antoš, Ph.D. |
| Author: | hidden - assigned and confirmed by the Study Dept. |
| Date of registration: | 08.12.2010 |
| Date of assignment: | 08.12.2010 |
| Date of proceeded defence: | 10.07.2011 |
| Advisors: | RNDr. Martin Veis, Ph.D. |
| Guidelines |
| Podobně jako spektroskopická elipsometrie je používaná jako přesná metoda charakterizace tenkých izotropních filmů a jejich povrchových vlastností, tak i magnetooptická spektroskopická elipsometrie (využívající Kerrův magnetooptický efekt) je perspektivní pro charakterizaci magnetoopticky aktivních materiálů. Aby bylo možné navrhovat a zkoumat složitější systémy, jakými jsou magnetooptické filtry (např. nereciproký magnetooptický izolátor), je třeba těmito metodami nejprve důkladně analyzovat jejich základní stavební kameny, jakými jsou magnetické kovové filmy a jejich magnetooptické vlastnosti, včetně obtížně detekovatelných povrchových oxidových vrstev. Z tohoto hlediska je velmi perspektivní studium tenkých filmů vyrobených např. z niklu nebo permalloye (NiFe), jejichž reflexní odezva je silně ovlivněna povrchovými oxidy NiO, resp. NiFeO, jehož optické vlastnosti dosud nejsou známy.
Náplní tohoto projektu je teoreticky i prakticky se seznámit s metodou měření magnetooptické spektroskopie tenkých vrstev, využívající magnetooptický Kerrův efekt. Získaná data budou interpretována jednoduchým teoretickým modelem, pomocí něhož budou určeny optické a magnetooptické parametry tenkých kovových filmů Ni a NiFe a tloušťky jejich povrchových oxidových vrstev. |
| References |
| R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, Ellipsometry and Polarized Light, North-Holland, Amsterdam / New York / Oxford 1977.
Š. Višňovský, Optics in Magnetic Multilayers and Nanostructures, CRC Taylor & Francis, Boca Raton 2006. Vybraný soubor původních prací týkajících se tématu. K dispozici u vedoucího ptojektu. |