Mapování emise světla v rastrovacím tunelovacím mikroskopu
| Thesis title in Czech: | Mapování emise světla v rastrovacím tunelovacím mikroskopu |
|---|---|
| Thesis title in English: | Mapping of photon emission in the scanning tunnelling microscope |
| Academic year of topic announcement: | 2007/2008 |
| Thesis type: | Bachelor's thesis |
| Thesis language: | |
| Department: | Department of Chemical Physics and Optics (32-KCHFO) |
| Supervisor: | prof. RNDr. Ivan Pelant, DrSc. |
| Author: | hidden - assigned and confirmed by the Study Dept. |
| Date of registration: | 14.11.2007 |
| Date of assignment: | 14.11.2007 |
| Guidelines |
| Cílem bakalářské práce bude seznámit se s jednou z metod SPM, a to konkrétně s měřením fotonové emise buzené hrotem rastrovacího tunelovacího mikroskopu, která spojuje zobrazování povrchu s mapováním účinnosti emise světla s rozlišením značně pod difrakční limitou, a použít ji na charakterizaci nanostrukturovaného povrchu. Předpokládá se zájem o experimentální práci. |
| References |
| A. Gustrafsson et al: Local probe techniques for luminescence studies of low-dimensional semiconductor structures, Applied Physics Reviews (4) 84 (1998), 1715--1775
internetové stránky http://www.ntmdt.com/ |
| Preliminary scope of work |
| Konzultantka: RNDr. Kateřina Kůsová
V současné době dochází k bouřlivému rozvoji nanotechnologií a je nutné rozvíjet nové diagnostické metody, které umožňují studium materiálů na velmi malých měřítcích. Mezi takovéto metody patří zejména různé typy rastrovací sondovací mikroskopie (SPM - z angl. scanning probe microscopy), dovolující kromě samotného zobrazování povrchu zkoumat široké spektrum jeho vlastností, jako například elektrické, elastické, apod., s velmi vysokým prostorovým rozlišením až v řádu nanometrů. Cílem bakalářské práce bude seznámit se s jednou z metod SPM, a to konkrétně s měřením fotonové emise buzené hrotem rastrovacího tunelovacího mikroskopu z oblasti s velikostí v řádu desítek až stovek nanometrů, která spojuje zobrazování povrchu s mapováním účinnosti emise světla s rozlišením značně pod difrakční limitou, a použít ji na charakterizaci nanostrukturovaného povrchu. U studenta(-ky) se předpokládá zájem o experimentální práci v laboratoři. |
| Preliminary scope of work in English |
| Consultant: RNDr. Kateřina Kůsová
Due to the recent advances in nanotechnologies new diagnostic methods to study materials on very small scales need to be developed. The main part of these methods are various types of scanning probe microscopy (SPM) suitable not only to map the surface itself but also to measure a wide spectrum of its properties, ranging from electrical to elastical, with a very high spatial resolution reaching as far as the order of nanometres. The aim of the bachelor thesis is to come to terms with one of scanning probe microscopy methods---the photon emission from a scanning tunnelling microscope, and use this method, which enables one to combine imaging of the surface and mapping the efficiency of photon emission with the resolution highly exceeding the diffraction limit, to characterize a nanostructured surface. The student's interest in experimental work in laboratory is essential. |