Studium rtg difrakčních profilů aproximací celého záznamu teoretickou funkcí
| Thesis title in Czech: | Studium rtg difrakčních profilů aproximací celého záznamu teoretickou funkcí |
|---|---|
| Thesis title in English: | XRD line profile analysis by total powder pattern fitting |
| Academic year of topic announcement: | 2005/2006 |
| Thesis type: | Bachelor's thesis |
| Thesis language: | |
| Department: | Department of Condensed Matter Physics (32-KFKL) |
| Supervisor: | prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc. |
| Author: |
| Guidelines |
| Práce převážně spočívá ve výpočetní práci s několika programy a analýze dosažených parametrů.
|
| References |
| Vhodné výběrové přednášky
Úvod do krystalografie a strukturní analýzy 2/1 (ZS) FPL 035 a Difrakční metody 2/0 (LS). |
| Preliminary scope of work |
| Rtg difrakční záznam polykrystalického materiálu obsahuje celou řadu zajímavých informací o zkoumaném materiálu. Lze studovat fázové složení, strukturu fází, přednostní orientaci, mřížové parametry, mikrodeformace, velikosti krystalitů. V klasickém způsobu zpracování dat se nejprve vyhodnotí parametry jednotlivých difrakčních profilů (poloha, intenzita, šířka apod.) a pak se tyto zpracovávají. Modernějším přístupem je snaha popsat celý záznam vhodnou funkcí obsahující fyzikální parametry (např. velikost krystalitů, hustotu defektů mříže). Problém takového popisu zatím spočívá v korelaci některých parametrů a hledání správného řešení. Cílem práce je zpracovat vzorová zadaná data, analyzovat chování dosažených parametrů a charakterizovat kritická místa procedury.
Práce převážně spočívá ve výpočetní práci s několika programy. |