Study of Radiation Damage in Silicon Strip Detector for ATLAS ITk
Thesis title in Czech: | Studium radiačního poškození v křemíkovém stripovém detektoru pro ATLAS ITk |
---|---|
Thesis title in English: | Study of Radiation Damage in Silicon Strip Detector for ATLAS ITk |
Key words: | křemíkové stripové detektory, radiační poškození, ATLAS ITk Upgrade, detekční vlastnosti, elektrické parametry |
English key words: | Silicon strip detector, Radiation damage, ATLAS ITk Upgrade, Detection performance, Electrical parameters |
Academic year of topic announcement: | 2018/2019 |
Thesis type: | Bachelor's thesis |
Thesis language: | angličtina |
Department: | Institute of Particle and Nuclear Physics (32-UCJF) |
Supervisor: | Marcela Mikeštíková |
Author: | hidden - assigned and confirmed by the Study Dept. |
Date of registration: | 02.10.2018 |
Date of assignment: | 04.10.2018 |
Confirmed by Study dept. on: | 12.10.2018 |
Date and time of defence: | 12.09.2019 09:00 |
Date of electronic submission: | 15.05.2019 |
Date of submission of printed version: | 15.05.2019 |
Date of proceeded defence: | 12.09.2019 |
Opponents: | Mária Marčišovská |
Advisors: | RNDr. Mgr. Jiří Kroll, Ph.D. |
prof. RNDr. Zdeněk Doležal, Dr. | |
Guidelines |
Seznámení se s principy polovodičových detektorů
Seznámení se s aparaturou pro měření elektrických charakteristik stripových detektorů Testování stripových detektorů ozářených různými dávkami Vyhodnocení radiační odolnosti těchto detektorů zkoumáním změny jejich povrchových a objemových vlastností |
References |
Z. Doležal: Polovodičové detektory v jaderné a subjaderné fyzice, http://www-ucjf.troja.mff.cuni.cz/~dolezal/teach/semicon/semi_p.pdf
ATLAS Collaboration, Technical Design Report for the ATLAS Inner Tracker Strip Detector, CERN-LHCC-2017-005, http://cds.cern.ch/record/2257755 Gerhard Lutz, Semiconductor Radiation Detectors, Springer-Verlag Berlin Heidelberg Glenn F. Knoll, Radiation Detection and Measurement, John Wiley & Sons, Inc., 2010 Helmuth Spieler, Semiconductor detector systems. Semiconductor Science and Technology. Oxford: Oxford Univ. Press, 2005, https://cds.cern.ch/record/1010490 |