3D tomografie tenkovstvých katalyzátorů pomocí technik FIB/SEM
| Thesis title in Czech: | 3D tomografie tenkovstvých katalyzátorů pomocí technik FIB/SEM |
|---|---|
| Thesis title in English: | 3D tomography of thin film catalysts by means of FIB/SEM techniques |
| Key words: | tomografie, SEM, FIB, GIS, Pt/CeO2 |
| English key words: | tomography, SEM, FIB, GIS, Pt/CeO2 |
| Academic year of topic announcement: | 2018/2019 |
| Thesis type: | Bachelor's thesis |
| Thesis language: | čeština |
| Department: | Department of Surface and Plasma Science (32-KFPP) |
| Supervisor: | prof. Mgr. Iva Matolínová, Dr. |
| Author: | hidden - assigned and confirmed by the Study Dept. |
| Date of registration: | 05.11.2018 |
| Date of assignment: | 06.11.2018 |
| Confirmed by Study dept. on: | 11.12.2018 |
| Date and time of defence: | 25.06.2019 09:00 |
| Date of electronic submission: | 02.07.2019 |
| Date of submission of printed version: | 17.05.2019 |
| Date of proceeded defence: | 25.06.2019 |
| Opponents: | doc. Mgr. Ivan Khalakhan, Ph.D. |
| Advisors: | Mgr. Jaroslava Nováková, Ph.D. |
| Guidelines |
| 1) Bibliografická rešerše.
2) Zvládnutí základních funkcí ovládání SEM a FIB. 3) Příprava lamel a jejich kontaktování v SEM/FIB s cílem přenesení na povrch mřížky pro TEM. 4) Studium struktury tenkých vrstev elektronovou mikroskopií spolu s technikou FIB v 3D. 5) Vyhodnocení výsledků a sepsání bakalářské práce. |
| References |
| 1. Physical Principles of Electron Microscopy, R. F. Egerton, Springer, , Edmonton, Kanada 2007, ISBN 978-0387-25800-0.
2. Focused Ion Beam System, edited by Nan Yao, Cambridge University Press, ISBN 978-0-521-83199-4. 3. Nanostructures & Nanomaterials, G. Cao, Imperial College Press, ISBN: 1-86094-415-9, London 2004. 4. Tématicky zaměřené pulikace v odborných časopisech podle dohody s vedoucí práce. |
| Preliminary scope of work |
| Fyzikální a chemické vlastnosti materiálů jsou významně ovlivněny jejich strukturou a chemickým složením. Skenovací elektronová mikroskopie (SEM) spolu s technikou fokusovaného svazku iontů je mocným nástrojem pro charakterizaci struktury materiálů. Fokusovaný svazek iontů (FIB), který pracuje na principu odprašování materiálu urychlenými těžkými ionty (např. Ga+), je ideálním mikroobráběcím nástrojem např. pro přípravu vzorků pro TEM, neboť dokáže opracovat materiály do podoby velmi tenké folie, která je pro elektrony s vysokou energií průhledná.
V rámci vypsané práce budou v řádkovacím elektronovém mikroskopu (SEM) LYRA v kombinaci s fokusovaným svazkem iontů (FIB) studovány možnosti profilování různými materiály. Cílem práce bude třírozměrné zobrazování struktury tenkých vrstev. |