Příprava lamel pro transmisní elektronový mikroskop (TEM) pomocí fokusovaného iontového svazku (FIB)
| Thesis title in thesis language (Slovak): | Příprava lamel pro transmisní elektronový mikroskop (TEM) pomocí fokusovaného iontového svazku (FIB) |
|---|---|
| Thesis title in Czech: | Příprava lamel pro transmisní elektronový mikroskop (TEM) pomocí fokusovaného iontového svazku (FIB) |
| Thesis title in English: | Focused ion beam sample preparation for transmission elektron microscopy |
| Key words: | SEM, FIB, lamela, TEM |
| English key words: | SEM, FIB, lamela, TEM |
| Academic year of topic announcement: | 2010/2011 |
| Thesis type: | Bachelor's thesis |
| Thesis language: | slovenština |
| Department: | Department of Surface and Plasma Science (32-KFPP) |
| Supervisor: | prof. Mgr. Iva Matolínová, Dr. |
| Author: | hidden - assigned and confirmed by the Study Dept. |
| Date of registration: | 03.11.2010 |
| Date of assignment: | 03.11.2010 |
| Date and time of defence: | 23.06.2011 00:00 |
| Date of electronic submission: | 27.05.2011 |
| Date of submission of printed version: | 27.05.2011 |
| Date of proceeded defence: | 23.06.2011 |
| Opponents: | prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc. |
| Guidelines |
| 1. Bibliografická rešerše.
2. Zvládnutí základních funkcí ovládání SEM a FIB. 3. Příprava lamel a jejich kontaktování s cílem přenesení na povrch mřížky pro TEM. 4. Vyhodnocení výsledků a sepsání diplomové práce. |
| References |
| 1) NANOTECHNOLOGY IN CATALYSIS, B. Zhou, S. Han, R. Raja, G.A. Somorjai, Springer, ISBN 978-0387-34687-8, New York 2007.
2) Physical Principles of Elektron Microscopy, R. F. Egerton, Springer, ISBN 978-0387-25800-0, Edmonton, Kanada 2007. 3) R. Wirth, Chemical Geology 261 (2009) 217. |
| Preliminary scope of work |
| Fyzikální a chemické vlastnosti materiálů jsou významně ovlivněny jejich strukturou a chemickým složením. Transmisní elektronová mikroskopie (TEM) je mocným nástrojem pro komplexní charakterizaci široké škály materiálů. Vyžaduje však specifickou přípravu vzorků. Fokusovaný svazek iontů (FIB), který pracuje na principu odprašování materiálu urychlenými těžkými ionty (často Ga+), je ideálním nástrojem pro přípravu vzorků pro TEM, neboť dokáže opracovat materiály do podoby velmi tenké folie. Typické rozměry lamely, která je pro elektrony s vysokou energií průhledná, jsou 15 x 10 x 0.15 ?m a doba procesu přípravy je okolo 4 h.
V rámci vypsané práce budou v řádkovacím elektronovém mikroskopu (SEM) LYRA studovány možnosti vytváření lamel různých materiálů. Parametry přípravy budou optimalizovány tak, aby výsledná tloušťka lamel po vyleštění povrchu dosahovala přibližně 80 nm. Připravené lamely budou pomocí nanomanipulátoru přeneseny a uchyceny na mřížce pro TEM. http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/bak-abs.php?id=143 |
| Preliminary scope of work in English |
| http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/bak-abs.php?id=143 |