Studium tenkých vrstev metodou rentgenové reflexe

• Thesis title in Czech: Studium tenkých vrstev metodou rentgenové reflexe
• Thesis title in English: Study of thin films by means of x-ray reflectivity
• Academic year of topic announcement: 2007/2008
• Thesis type: Bachelor's thesis
• Thesis language: čeština
• Department: Department of Condensed Matter Physics (32-KFKL)
• Supervisor: doc. RNDr. Stanislav Daniš, Ph.D.
• Author: hidden - assigned and confirmed by the Study Dept.
• Date of registration: 16.11.2007
• Date of assignment: 19.11.2007
• Date and time of defence: 16.09.2008 00:00
• Date of electronic submission: 16.09.2008
• Date of proceeded defence: 16.09.2008
• Opponents: prof. RNDr. Václav Holý, CSc.

Guidelines

1. Seznámení s teorií kinematického rozptylu rtg.záření a rtg.reflektivitou
2. Seznámení s experimentálním uspořádáním vhodným k měření rtg.reflektivity tenkých vrstev
3. Měření testovacích vzorků (Cr/sklo, rtg.zrcadlo), vyhodnocení exp.dat, popř. vylepšení stávajícího software
4. Měření a analýza tenkých vrstev TiO2, popř. polovodičových epitaxních vrstev
5. Diskuse výsledků, sepsání bakalářské práce

References

1. Tolan, M., X-Ray & Neutron Reflectivity, přednáška v rámci školy Hercules, elektronická verze
2. Pietsch,U., Holý, V., Baumbach, T., High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics), Springer 2nd ed. edition (August 27, 2004)
3. Sinha,S.K, Sirota, E.B., Garoff, S, Stanley,H.B., X-Ray and neutron scattering from rough surfaces, Physical Review B, Vol.38, p.2297 (1988)
4. články v odborné literatuře

Preliminary scope of work

Polovodičový průmysl již mnoho let používá technologii tenkých vrstev k výrobě nejrůznějších elektronických prvků - od jednoduchých P-N přechodů v diodách až po složité multivrstvy a heterostruktury v polovodičových laserech. Kvalita těchto struktur je určující pro jejich elektrické, resp. transportní, vlastnosti. Jednou z metod, jakými můžeme experimentálně studovat strukturu tenké vrstvy je rentgenová reflektometrie.
Práce je zaměřena na experiment i na teorii. Požadují se základní znalosti optiky v rozsahu základních přednášek. Během řešení bude zájemce provádět měření na rtg. difraktometru a naměřená data porovná s teorií. Výhodou je alespoň základní znalost programování (v kterémkoli programovacím jazyce). Práce je vhodná i pro uchazeče o magisterské studium.