Studium tenkých vrstev metodou rentgenové
reflexe.
| Thesis title in Czech: | Studium tenkých vrstev metodou rentgenové reflexe. |
|---|---|
| Thesis title in English: | Study of thin films by means of x-ray reflectivity |
| Academic year of topic announcement: | 2006/2007 |
| Thesis type: | Bachelor's thesis |
| Thesis language: | |
| Department: | Department of Condensed Matter Physics (32-KFKL) |
| Supervisor: | doc. RNDr. Stanislav Daniš, Ph.D. |
| Author: |
| Preliminary scope of work |
| Polovodičový průmysl již mnoho let používá technologii tenkých vrstev k výrobě nejrůznějších elektronických prvků - od jednoduchých P-N přechodů v diodách až po složité multivrstvy a heterostruktury v polovodičových laserech. Kvalita těchto struktur je určující pro jejich elektrické, resp. transportní, vlastnosti. Jednou z metod, jakými můžeme experimentálně studovat strukturu tenké vrstvy je rentgenová reflektometrie.
Práce je zaměřena na experiment i na teorii. Požadují se základní znalosti optiky v rozsahu základních přednášek. Během řešení bude zájemce provádět měření na rtg. difraktometru a naměřená data porovná s teorií. Výhodou je alespoň základní znalost programování (v kterémkoli programovacím jazyce). Práce je vhodná i pro uchazeče o magisterské studium. |