Charakterizace povrchu polovodičových substrátů pro optoelektronické aplikace
| Thesis title in Czech: | Charakterizace povrchu polovodičových substrátů pro optoelektronické aplikace |
|---|---|
| Thesis title in English: | Surface Characterization of Semiconductor Substrates for Optoelectronic Applications |
| Academic year of topic announcement: | 2006/2007 |
| Thesis type: | Bachelor's thesis |
| Thesis language: | |
| Department: | Institute of Physics of Charles University (32-FUUK) |
| Supervisor: | doc. RNDr. Pavel Moravec, CSc. |
| Author: |
| Guidelines |
| 1. Seznámit se s procesy opracování povrchu a základními požadavky na substráty CdZnTe vhodné k přípravě epitaxních vrstev HgCdTe pro infračervenou detekci.
2. Obeznámit se s funkcí a obsluhou interferenčního profiloměru Zygo, který poskytuje detailní mapy studovaných povrchů. 3. Vyhodnotit charakteristiky povrchu substrátů připravených chemickým leštěním za různých podmínek. Porovnat vliv korekcí s ohledem na charakter vyleštěných ploch v nanometrické oblasti. 4. Získané výsledky srovnat s měřením pomocí mikroskopu atomárních sil (metoda AFM). |