Rtg difrakce s vysokým rozlišením na epitaxních vrstvách GaMnAs
| Thesis title in Czech: | Rtg difrakce s vysokým rozlišením na epitaxních vrstvách GaMnAs |
|---|---|
| Thesis title in English: | High-resolution x-ray diffraction from epitaxial layers of GaMnAs |
| Academic year of topic announcement: | 2005/2006 |
| Thesis type: | diploma thesis |
| Thesis language: | |
| Department: | Department of Condensed Matter Physics (32-KFKL) |
| Supervisor: | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. |
| Author: |
| References |
| A. Authier, Dynamical Theory of X-Ray Diffraction, Oxford Univ. Press, Oxford 2001.
V. Holý, U. Pietsch and T. Baumbach, High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films and Multilayers, Springer-Verlag Berlin, Heidelberg, New York 1999. |
| Preliminary scope of work |
| Polovodičové epitaxní vrstvy GaMnAs jsou v posledních několika letech intenzivně sledovány pro svoje unikátní magnetické vlastnosti. Zvýšení Curieho teploty tohoto materiálu nad asi 100K vyžaduje zvětšit koncentraci atomů Mn nad 8%, což přináší řadu strukturních problémů, zejména zvětšení koncentrace atomů Mn v nepříznivých intersticiálních polohách.
Cílem práce je měření rtg difrakčních křivek epitaxních vrstev GaMnAs připravených metodou molekulární epitaxe na FzÚ AV ČR v Praze a na univerzitě v Lundu (Švédsko). Difrakční křivky budou simulovány pomocí dynamické teorie difrakce s cílem stanovit mřížkový parametr vrstvy a odhadnout koncentrace jednotlivých typů bodových defektů. Měření budou prováděna na difraktometru PANalytical na KFES MFF UK v Praze; měření anomální difrakce (u absorpční hrany MnK) na synchrotronu ESRF v Grenoblu. Práce je převážně experimentální povahy, vyžaduje však zběhlost v numerickém řešení jednoduchých fyzikálních problémů a v programování. |