Thesis (Selection of subject)Thesis (Selection of subject)(version: 368)
Thesis details
   Login via CAS
Studium vlivu miscutu na epitaxní vztah tenkých pyrochlorických (super)vrstev na subtrátech s orientací (111)
Thesis title in Czech: Studium vlivu miscutu na epitaxní vztah tenkých pyrochlorických (super)vrstev na subtrátech s orientací (111)
Thesis title in English: Study of epitaxial relation of pyrochlore (super)layers on (111) miscut substrates
Key words: pyrochlory|rtg reflektivita|rtg difrakce|mapování reciprokého prostoru
English key words: pyrochlore|x-ray reflectometry|x-ray diffraction|reciprocal space mapping
Academic year of topic announcement: 2024/2025
Thesis type: Bachelor's thesis
Thesis language:
Department: Department of Condensed Matter Physics (32-KFKL)
Supervisor: Mgr. Lukáš Horák, Ph.D.
Author:
Guidelines
Budou měřeny série epitaxních pyrochlorických iridátových vrstvev na isostrukturních substrátech s orientací povrchu (111). Cílem bude objasnit vliv miscutu povrchu na epitaxní vztah relaxovaných vrstvev a substrátů. Miscut bude stanoven pomocí rtg reflektometrie a rtg difrakce. Vzájemná krystalografická orientace a mřížové parametry budou určeny z experimentálních reciprokých map.
Předpokládá se následný průběh řešení:
1. zvládnutí teoretických základů teorie RTG rozptylu
3. změření reflektivních křivek a difrakčních recpirokých map pro sadu vzorků epitaxních pyrochlorických iridátových vrstvev
4. určení miscutu daných substrátů
5. určení epitaxního vztahu mezi vrstvou a isostrukturním substrátem, určení případné distorze základní buňky vrstvy
References
[1] V. Valvoda, M. Polcarová, P. Lukáč: Základy strukturní analýzy, Karolinum, Praha, 1992
[2] Pietsch, U., Holý, V., & Tilo Baumbach. (2004). High-resolution X-ray scattering from Thin Films and Lateral Nanostructures (Second). New York: Springer.
[3] Als-Nielsen, J., & McMorrow, D. (2001). Elements of Modern X-Ray Physics. New York: Wiley.
 
Charles University | Information system of Charles University | http://www.cuni.cz/UKEN-329.html