Student se seznámí s vědeckými základy a experimentálními postupy v oblasti diagnostické metody AFM, provede měření konkrétních vzorků a připraví zprávu na základě dosažených výsledků.
References
Plasma polymer films, ed. H. Biederman, Imperial College Press, London 2004
V. L. Mironov: Fundamentals of scanning probe microscopy, NT-MDT, Nizhniy Novgorod,2004
Preliminary scope of work
Povrchová nanostruktura může významným způsobem ovlivňovat funkčnost materiálů. Z tohoto důvodu byly v posledních desetiletích vyvinuty pokročilé metody analýzy povrchů. Jednou z těchto metod je skenovací sondová mikroskopie, např. AFM, která umožnuje sledování topografie povrchu s nanometrovým rozlišením. Práce bude zaměřena na využití této techniky pro analýzu nanostrukturovaných povrchů (nanočástice, nanosloupce, 2D nanoostrůvky a nanodendrity) připravovaných na KMF MFF UK za využití nízkoteplotního plazmatu. Pro studium připravovaných nanostruktur bude využito zejména nové experimentální zařízení – AFM mikroskop NTEGRA Prima.
