Modifikace hrotu pro zobrazování nanostruktur v AFM s vysokým rozlišením
| Thesis title in Czech: | Modifikace hrotu pro zobrazování nanostruktur v AFM s vysokým rozlišením |
|---|---|
| Thesis title in English: | Tip modification for high-resolution AFM imaging of nanostructures |
| Key words: | AFM, modifikace hrotu, uhlíkové nanotrubičky, SEM, FIB, GIS |
| English key words: | AFM, tip modification, carbon nanotubes, SEM, FIB, GIS |
| Academic year of topic announcement: | 2015/2016 |
| Thesis type: | diploma thesis |
| Thesis language: | čeština |
| Department: | Department of Surface and Plasma Science (32-KFPP) |
| Supervisor: | prof. Mgr. Iva Matolínová, Dr. |
| Author: | hidden - assigned and confirmed by the Study Dept. |
| Date of registration: | 17.11.2015 |
| Date of assignment: | 19.11.2015 |
| Confirmed by Study dept. on: | 20.01.2016 |
| Date and time of defence: | 15.09.2017 00:00 |
| Date of electronic submission: | 21.07.2017 |
| Date of submission of printed version: | 21.07.2017 |
| Date of proceeded defence: | 15.09.2017 |
| Opponents: | doc. Mgr. Michael Vorochta, Ph.D. |
| Advisors: | doc. Mgr. Ivan Khalakhan, Ph.D. |
| Guidelines |
| 1. Bibliografická rešerše.
2. Zvládnutí práce s mikroskopy AFM a SEM včetně nanomanipulace. 3. Testování vhodných parametrů pro mikroobrábění a depozice materiálu pomocí elektronového a iontového svazku (FIB, GIS, SEM). 4. Výběr vhodných pracovních podmínek a postupů pro funkcionalizaci hrotů v SEM. 5. Ověření funkčnosti vyrobených hrotů v AFM při zobrazování nanostrukturovaných materiálů s vysokým rozlišením. 6. Vyhodnocení výsledků a sepsání diplomové práce. |
| References |
| 1. Physical Principles of Electron Microscopy, R. F. Egerton, Springer, ISBN 978-0387-25800-0, Edmonton, Kanada 2007.
2. Focused Ion Beam System, edited by Nan Yao, Cambridge University Press, ISBN 978-0-521-83199-4. 3. Nanostructures & Nanomaterials, G. Cao, Imperial College Press, ISBN: 1-86094-415-9, London 2004. 4. Tématicky zaměřené pulikace v odborných časopisech podle dohody s vedoucí práce. |
| Preliminary scope of work |
| Mikroskopie atomárních sil (AFM) je univerzální a výkonný nástroj pro topografické zobrazování povrchů s rozlišením v nanometrech. Kvalita získaného obrazu je podmíněna přesností udržování polohy hrotu, přesností jeho pohybu a schopností detekce ohnutí. Pro pohybování hrotem se používají výhradně piezoelektrické skenery, které jsou schopny realizovat pohyby menší než desetina nanometru. Při zobrazování povrchu dochází často k problémům způsobeným blízkostí hrotu a vzorku, a to při silné vzájemné interakce, při zachycení či poškození hrotu, při jeho znečištění. Rovněž nenulová šířka hrotu vede k deformaci obrazu. Získaný obraz tedy velmi závisí na kvalitě použitého hrotu, která je omezena především geometrií hrotu sondy sloužící ke skenování povrchu. Jinými slovy, hrot, který je symetrický, dostečně dlouhý a ostřejší, v obraze přesněji reprodukuje zakřivení studovaného povrchu.
Navrhovaná diplomová práce bude zaměřena na modifikaci/funkcionalizaci komerčně dostupných hrotů pro AFM mikroobráběním fokusovaným iontovým svazkem (FIB) a depozicí materiálů pomocí systému napouštění plynných prekurzorů (GIS) v řádkovacím elektronovém mikroskopu (SEM). Budou hledány vhodné pracovní podmínky a postupy, kombinace materiálů, parametrů jejich depozice elektronovým a iontovým svazkem. Připravené hroty budou použity pro studium nanomateriálů v AFM. http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dipl-abs.php?id=708 |
| Preliminary scope of work in English |
| http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dipl-abs.php?id=708 |