Studium magnetických domén pomocí mikroskopie magnetických sil
| Thesis title in Czech: | Studium magnetických domén pomocí mikroskopie magnetických sil |
|---|---|
| Thesis title in English: | Magnetic Domain Imaging Using Magnetic Force Microscopy |
| Key words: | Mikroskopie atomárnách sil, mikroskopie magnetických sil, feromagnetismus, doménová struktura, |
| English key words: | Atomic Force Microscopy, Magnetic Force Microscopy, ferromagnetism, domain structure |
| Academic year of topic announcement: | 2015/2016 |
| Thesis type: | Bachelor's thesis |
| Thesis language: | čeština |
| Department: | Department of Condensed Matter Physics (32-KFKL) |
| Supervisor: | RNDr. Klára Uhlířová, Ph.D. |
| Author: | hidden - assigned and confirmed by the Study Dept. |
| Date of registration: | 27.10.2015 |
| Date of assignment: | 27.10.2015 |
| Confirmed by Study dept. on: | 26.01.2016 |
| Date and time of defence: | 26.06.2018 09:00 |
| Date of electronic submission: | 04.01.2018 |
| Date of submission of printed version: | 12.01.2018 |
| Date of proceeded defence: | 26.06.2018 |
| Opponents: | RNDr. Martin Veis, Ph.D. |
| Guidelines |
| 1. Základní pochopení studované problematiky, studium literatury
2. Zvládnutí základních principů metody mikroskopie atomárních sil a mikroskopie magnetických sil, optimalizace parametrů 3. Studium magnetických domén vybraných feromagnetických materiálů 4. Vyhodnocení a interpretace naměřených výsledků 5. Prezentace výsledků, sepsání a odevzdání práce |
| References |
| 1. Manuál k Mikroskopu Bruker Multimode, Bruker Dinemnsion
2. V.L Mironov, Fundamentals of the scanning probe microscopy, Nizhniy Novgorod, 2004 |
| Preliminary scope of work |
| Existence a konečná velikost a tvar magnetických domén jsou dány rovnováhou mezi dipólovou energií, energií doménových stěn a energií magnetické anizotropie. Tyto parametry záleží na typu materiálu, jeho formě či na magnetické historii vzorku.
Významnou metodou pro studium uspořádání magnetických domén je mikroskopie magnetických sil (MFM). Tato metoda je odvozená od mikroskopie atomárních sil (AFM). Jedná se tedy o povrchovou metodu pomocí níž studujeme lokální silové působení mezi rastrujícím magnetickým hrotem a vzorkem. Student(ka) získá dovednosti z oblasti AFM a od ní odvozené metody MFM. Seznámí se s požadavky na volbu hrotů a s vlivem úpravy povrchu na doménovou strukturu a kvalitu signálu. V práci je možné pokračovat v rámci magisterského studia, ale zároveň respektujeme právo studentky/studenta na změnu tématu, školiteky/školitele, nebo volbu jiného oboru. |