Thesis (Selection of subject)Thesis (Selection of subject)(version: 368)
Thesis details
   Login via CAS
Electronic and structural properties of model catalysts based on cerium oxide
Thesis title in Czech: Elektronické a strukturní vlastnosti modelových katalyzátorů na bázi oxidu ceru
Thesis title in English: Electronic and structural properties of model catalysts based on cerium oxide
Key words: heterogenní katalýza, oxid ceru, kyslíkové vakance, fotoemisní spektroskopie
English key words: heterogeneous catalysis, cerium oxide, oxygen vacancies, photoemission spectroscopy
Academic year of topic announcement: 2013/2014
Thesis type: dissertation
Thesis language: angličtina
Department: Department of Surface and Plasma Science (32-KFPP)
Supervisor: RNDr. Kateřina Veltruská, CSc.
Author: hidden - assigned and confirmed by the Study Dept.
Date of registration: 27.09.2013
Date of assignment: 27.09.2013
Confirmed by Study dept. on: 11.12.2013
Date and time of defence: 14.09.2017 09:00
Date of electronic submission:28.06.2017
Date of submission of printed version:28.06.2017
Date of proceeded defence: 14.09.2017
Opponents: prof. RNDr. Igor Bartoš, DrSc.
  Jolla Kullgren
 
 
Advisors: prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc.
Guidelines
Mechanismy, probíhající v reálných katalyzátorech jsou vzhledem k jejich komplikovanému složení a struktuře, složitým problémem. K objasnění těchto mechanismů značnou měrou přispívají studia na modelových katalyzátorech – tenkých epitaxních vrstvách na kovových substrátech. Ve skupině povrchů se již delší dobu pracuje na systému CeO2/Cu(111), kde byla studována interakce s katalyticky aktivními kovy a zkoumána interakce s plyny. Nedávno se podařilo připravit unikátní epitaxní systém Ce2O3/Cu(111).

Práce bude zaměřena na přípravu a studium výše zmíněných systémů s důrazem na Ce2O3/Cu(111). Systémy budou připraveny in situ reaktivním napařováním a studovány metodami fotoelektronové spektroskopie – rentgenovskou (XPS), ultrafialovou (UPS) a zejména jejich úhlově rozlišenými modifikacemi (XPD a ARUPS), které umožní získat podrobné informace o chemickém složení, prostorové a elektronové struktuře (včetně pásové struktury), interakci deponovaných kovů se substrátem a další. K charakterizaci budou použity i další metody dostupné na aparatuře - elektronová difrakce (LEED) a spektroskopie rozptýlených iontů (ISS). Na připravených površích bude studována adsorpce jednoduchých plynů, opět výše zmíněnými metodami. Práce bude probíhat na UHV aparaturách vybavených komerčními spektrometry. Předpokládá se, že část experimentů prováděna na spektrometru optické dráhy MSB v Terstu, případně na jiných synchrotronech.


Zásady pro vypracování:
1. Studium literatury.
2. Příprava vrstev CeOx – čistých i dopovaných katalyticky aktivními kovy.
3. Charakterizace metodami XPS, LEED, ISS, XPD, ARUPS.
4. Zpracování dat.
References
1. D. Briggs, M.P. Seah: Practical Surface Analysis, vol. 2 - Auger and X-ray Photoelectron spectroscopy, Wiley, 1990, ISBN 0-471-92081-9.
2. Hufner: Photolectron Spectroscopy, Springer, 2003, ISBN 3-540-41802-4.
3. C. Julian Chen, Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (Oxford University Press, USA, 2007).
4. Další časopisecká literatura po dohodě s vedoucím práce.
Preliminary scope of work
http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dis-abs.php?id=289
Preliminary scope of work in English
http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dis-abs.php?id=289
 
Charles University | Information system of Charles University | http://www.cuni.cz/UKEN-329.html