Rtg difrakční studium teplotní stability tenkých vrstev a prášků TiO2
| Thesis title in Czech: | Rtg difrakční studium teplotní stability tenkých vrstev a prášků TiO2 |
|---|---|
| Thesis title in English: | XRD study of thermal stability of TiO2 thin films and powders |
| Key words: | rtg difrakce, tenké vrstvy, oxid titaničitý |
| English key words: | X-ray diffraction, thin films, titanium dioxide |
| Academic year of topic announcement: | 2012/2013 |
| Thesis type: | Bachelor's thesis |
| Thesis language: | čeština |
| Department: | Department of Condensed Matter Physics (32-KFKL) |
| Supervisor: | prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc. |
| Author: | hidden - assigned and confirmed by the Study Dept. |
| Date of registration: | 22.10.2012 |
| Date of assignment: | 05.11.2012 |
| Confirmed by Study dept. on: | 17.01.2013 |
| Date and time of defence: | 19.06.2013 00:00 |
| Date of electronic submission: | 23.05.2013 |
| Date of submission of printed version: | 23.05.2013 |
| Date of proceeded defence: | 19.06.2013 |
| Opponents: | prof. RNDr. Václav Valvoda, CSc. |
| Advisors: | Mgr. Zdeněk Matěj, Ph.D. |
| Guidelines |
| Práce převážně spočívá v experimentu na moderním rentgenovém difraktometru a vyhodnocení dat.
Cílem práce je sledovat teplotní stabilitu mikrostruktury a fázového složení několika vybraných vzorků (tenkých vrstev a prášků) TiO<sub>2</sub> in-situ ve vysokoteplotní komoře na rtg difraktometru a charakterizovat mikrostrukturu několika vybranými parametry, t.j. přednostní orientace, zbytková napětí, mikroskopická napětí, velikosti krystalitů. Ke studiu budou využívány různé difrakční geometrie umožňující spolehlivé stanovení těchto parametrů. Vyhodnocení bude prováděno jednak sledováním změn parametrů několika vybraných difrakčních profilů a jednak metodou aproximace celého difrakčního záznamu najednou, tzv. total pattern fitting. |
| References |
| Vhodné výběrové přednášky
Úvod do krystalografie a strukturní analýzy FPL035 2/1 (ZS) a Difrakční metody 2/0 (LS). L. Nichtová, Rtg strukturní studium nanokrystalických tenkých vrstev. Praha 2005. Diplomová práce. V. Valvoda, M. Polcarová, P. Lukáč: Základy strukturní analýzy. Univerzita Karlova. Praha. 1992. (vybrané partie) I. Kraus: Úvod do strukturní rentgenografie. Academia. Praha 1985. (vybrané partie) I. Kraus., V.V. Trofimov: Rentgenová tenzometrie. Academia. Praha 1988. (vybrané partie) Experimentální techniky v rentgenové a neutronové strukturní analýze. Krystalografická společnost. Praha 1994. ed. R. Kuzel. (vybrané partie) |
| Preliminary scope of work |
| Význam nanokrystalických materiálů v celé řadě technologických a průmyslových aplikací v dnešní době výrazně vzrůstá. Jednou ze zajímavých aplikací je povlakování materiálů vrstvami TiO2 s vysokou smáčivostí (netvoří se kapky), které navíc vykazují fotokatalytické vlastnosti, které vedou k oxidační dekompozici organických molekul na povrchu působením ultrafialového záření (samočistící a antibakteriální vlastnosti).
Cílem práce je sledovat teplotní stabilitu mikrostruktury a fázového složení několika vybraných vzorků (tenkých vrstev a prášků) in-situ ve vysokoteplotní komoře na rtg difraktometru. Práce převážně spočívá v experimentu na moderním rentgenovém difraktometru a vyhodnocení dat. |