Studium modelových systémů kov/oxid metodou RHEED a metodami elektronových spektroskopií
| Thesis title in Czech: | Studium modelových systémů kov/oxid metodou RHEED a metodami elektronových spektroskopií |
|---|---|
| Thesis title in English: | Study of metal-oxide model systems by methods of electron spectroscopy and diffraction |
| Academic year of topic announcement: | 2008/2009 |
| Thesis type: | diploma thesis |
| Thesis language: | |
| Department: | Department of Surface and Plasma Science (32-KFPP) |
| Supervisor: | prof. RNDr. Karel Mašek, Ph.D. |
| Author: | |
| Advisors: | prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc. |
| Guidelines |
| 1) seznámení se s laboratorním systémem RHEED a XPS-AES
2) příprava tenkých epitaxních vrstev WOx/ W(110) 3) příprava a studium systémů kov-oxid 4) vyhodnocení a interpretace naměřených dat |
| References |
| 1) L. Eckertová, L. Frank, Metody analýzy povrchů ? Elektronová mikroskopie a difrakce, Academia, Praha, 1996
2) L. Eckertová a kol., Metody analýzy povrchů, Elektronová spektroskopie, Academia, Praha 1990 3) Slavomír Nemšák, Doktorandská disertační práce, MFF UK Praha, 2008 4) Články v odborných časopisech podle dohody s vedoucím práce |
| Preliminary scope of work |
| http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dipl-abs.php?id=621
Systém kov/oxid tvoří základní stavební součást řady průmyslových aplikací v oblasti elektrotechnického průmyslu, heterogenní katalýzy, detekce plynů apod. Z tohoto důvodu je neustále předmětem širokého výzkumu. V rámci této diplomové práce budou fyzikálně-chemické vlastnosti systému kov-oxid Pd(Pt, Au)/WOx/W(110) studovány metodou reflexní difrakce rychlých elektronů (RHEED) a různými elektronovými spektroskopiemi. Experimentální zařízení je vybaveno vypařovacími elementy pro přípravu tenkých epitaxních vrstev kovů i oxidů. Epitaxní vrstva oxidu wolframu bude připravena pomocí plazmové oxidace povrchu monokrystalu W(110). Komerčním analyzátor RHEA-100 od firmy Staib Instruments umožňuje měření charakteristických ztrát elektronů (EELS) přímo z difraktovaných elektronových svazků (RHEED). Vícekanálový hemisférický analyzátor VSW HA-100 nabízí možnost zkoumání těchto systémů dalšími metodami elektronových spektroskopií (AES ? spektroskopie Augerových elektronů, EELS, XPS ? fotoelektronová spektroskopie). Současně bude studován i vliv redukce oxidu a případná bimetalická interakce na vlastnosti celého systému. |