Charakterizace povrchu polovodičových substrátů pro optoelektronické aplikace
| Thesis title in Czech: | Charakterizace povrchu polovodičových substrátů pro optoelektronické aplikace |
|---|---|
| Thesis title in English: | Surface Characterization of Semiconductor Substrates for Optoelectronic Applications |
| Academic year of topic announcement: | 2007/2008 |
| Thesis type: | Bachelor's thesis |
| Thesis language: | čeština |
| Department: | Institute of Physics of Charles University (32-FUUK) |
| Supervisor: | doc. RNDr. Pavel Moravec, CSc. |
| Author: |
| Guidelines |
| 1. Seznámit se s procesy opracování povrchu a základními požadavky na substráty CdZnTe vhodné k přípravě epitaxních vrstev HgCdTe pro infračervenou detekci.
2. Obeznámit se s funkcí a obsluhou interferenčního profiloměru Zygo, který poskytuje detailní mapy studovaných povrchů. 3. Vyhodnotit charakteristiky povrchu substrátů připravených chemickým leštěním za různých podmínek. Porovnat vliv korekcí s ohledem na charakter vyleštěných ploch v nanometrické oblasti. 4. Získané výsledky srovnat s měřením pomocí mikroskopu atomárních sil (metoda AFM). |
| Preliminary scope of work |
| Práce spadá do oblasti studia vlastností polovodičových materiálů s aplikačním výstupem pro optoelektroniku. Je zaměřena na přípravu kvalitních polovodičových substrátů na bázi dokonalých monokrystalů CdZnTe s velmi nízkou hrubostí povrchu. Finálním procesem při úpravě povrchu polovodičových podložek je chemické leštění. Cílem práce je charakterizace povrchu vybraných substrátů pomocí různých optických metod a stanovení jejich vhodnosti pro přípravu epitaxních vrstev. |