Atomic force microscopy (AFM) je metoda využívající atomových sil při studiu povrchových vlastností látek. Tyto povrchové vlastnosti lze význačným způsobem měnit díky modifikaci technologie jejich přípravy.
Cílem práce je studium polymerních povrchů a povrchů plasmových polymerů pomocí metody AFM. Tyto povrchy budou různým způsobem modifikovány.
