Stanovení stupně plastické relaxace v epitaxní vrstvě
| Thesis title in Czech: | Stanovení stupně plastické relaxace v epitaxní vrstvě |
|---|---|
| Thesis title in English: | Determination of the degree of plastic relaxation of an epitaxial layer |
| Academic year of topic announcement: | 2005/2006 |
| Thesis type: | Bachelor's thesis |
| Thesis language: | |
| Department: | Department of Condensed Matter Physics (32-KFKL) |
| Supervisor: | prof. RNDr. Václav Holý, CSc. |
| Author: |
| Preliminary scope of work |
| Překročí-li rozdíl mřížkových parametrů epitaxní vrstvy a substrátu jistou kritickou hodnotu, vznikají při epitaxním růstu na rozhraní substrát-vrstva dislokace a dochází k plastické relaxaci vrstvy. Cílem práce je určení mřížkových parametrů vrstvy ve směru rovnoběžném s rozhraním a kolmo na rozhraní. Pomocí difraktometru s vysokým rozlišením se naměří dvojrozměrné rozložení difraktované intenzity v reciproké rovině v okolí symetrického a asymetrického uzlu reciproké mřížky. Relativní rozdíly mřížkových parametrů lze stanovit z polohy maxima od vrstvy relativně k substrátovému maximu. Pro měření se použije nový difraktometr PANalytical s vysokým rozlišením
Zájemci se mohou dozvědět podrobnosti u V. Holého osobně nebo na e-mailové adrese: holy@karlov.mff.cuni.cz Po konzultaci se mohou tamtéž přihlásit.Práce je též vhodná pro uchazeče o magisterské studium. |