Určení neznámé struktury epitaxně stabilizovaných vrstev
| Thesis title in Czech: | Určení neznámé struktury epitaxně stabilizovaných vrstev |
|---|---|
| Thesis title in English: | Structure determination of epitaxially stabilized layers |
| Key words: | rtg difrakce|epitaxní vrstva|určení struktury|MgIrO3 |
| English key words: | x-ray diffraction|epitaxial layer|structure determination|MgIrO3 |
| Academic year of topic announcement: | 2024/2025 |
| Thesis type: | Bachelor's thesis |
| Thesis language: | |
| Department: | Department of Condensed Matter Physics (32-KFKL) |
| Supervisor: | Mgr. Lukáš Horák, Ph.D. |
| Author: |
| Guidelines |
| Cílem práce je určení neznámé struktury tenké epitaxně stabilizované vrstvy MgIrO3. Stuktura bude určena z širokých reciprokých map a vysokorozlišující RTG difrakce. Prostředkem bude extrahování strukturních faktorů z experimentálních dat. K tomu bude nutné nalézt a ověřit všechny instrumentální korekce intenzit pro použitý difraktrometr. Dílčí úkoly lze shrnout do těcho bodů:
1. Zvládnutí teorie difrakce RTG záření 2. Formulování vztahů pro výpočet intenzity záření difraktovaného v tenké vrstvě, zahrnutí experiementálních aberací u měření širokých reciproých map 3. Měření širokých reciprokých map 4. Měření vysokorozlišující RTG difrakce dle výsledků širokých map. 5. Extrahování strukturní faktoru z měření (užití instrumentálních korekcí) 6. Určení struktury ze získaných strukturních faktorů |
| References |
| [1] V. Valvoda, M. Polcarová, P. Lukáč: Základy strukturní analýzy, Karolinum, Praha, 1992
[2] Pietsch, U., Holý, V., & Tilo Baumbach. (2004). High-resolution X-ray scattering from Thin Films and Lateral Nanostructures (Second). New York: Springer. [3] Als-Nielsen, J., & McMorrow, D. (2001). Elements of Modern X-Ray Physics. New York: Wiley. [4] Glazer, A. M. (1972). The classification of tilted octahedra in perovskites. Acta Crystallographica Section B Structural Crystallography and Crystal Chemistry, 28(11), 3384–3392. https://doi.org/10.1107/S0567740872007976 |