Prostorově rozlišené mapovaní a korelace vlastností polovodičového materiálu na bázi CdTe
Thesis title in Czech: | Prostorově rozlišené mapovaní a korelace vlastností polovodičového materiálu na bázi CdTe |
---|---|
Thesis title in English: | Spatially resolved mapping and correlation of properties of CdTe based semiconducting material |
Key words: | CdTe, odpor, fototoluminiscence |
English key words: | CdTe, resistivity, photoluminescence |
Academic year of topic announcement: | 2017/2018 |
Thesis type: | project |
Thesis language: | |
Department: | Institute of Physics of Charles University (32-FUUK) |
Supervisor: | prof. Ing. Jan Franc, DrSc. |
Author: | |
Advisors: | RNDr. Martin Veis, Ph.D. |
Guidelines |
V rámci projektu je nutno prostudovat prostorově rozlišené rozložení vlastností materiálu (prostorové rozlišení od mm až po µm) na několika vzorcích pomocí některé z metod a korelovat výsledky měření. Korelace či anti-korelace budou využity k modelování přechodů náboje a rozložení hlubokých hladin, studiu vlivu povrchové oxidace a mohou pomoci další optimalizaci růstu materiálu. Zároveň je v projekt zaměřen na studium časového vývoje oxidové vrstvy a rozložení oxidu na povrchu vzorku. |
References |
Charles Kittel, Úvod do fyziky pevných látek, Academia, Praha, 1985 |
Preliminary scope of work |
Materiál CdTe a jeho odvezené sloučeniny se používají jako detektor rentgenového záření a záření gama. Jejich předností je možnost použití za pokojové teploty a jejich nízký šum. Pro konečné použití v detektoru je ale nutná větší plocha materiálu se stejnými vlastnostmi a pasivace povrchu. Metody růstu těchto materiálů mají ale malou výtěžnost, hlavně kvůli nehomogenitám parametrů materiálu. V naší laboratoři máme tyto prostorově rozlišené metody charakterizace těchto parametrů.
• Bezkontaktní měření odporu a vodivosti COREMA • Měření elipsometrie – měření zakázaného pásu, optických přechodů a tloušťky povrchové oxidace • Fotoluminiscenční spektroskopie – měření hlubokých hladin v zakázaném pásu |