Rtg difrakce je základní experimentální metoda pro stanovení parametrů krystalové mřížky a pro určení poloh atomů v elementární buňce. V rtg laboratoři Katedry fyziky kondenzovaných látek máme k dispozici rtg difraktometr s He kryostatem s uzavřeným cyklem, který umožňuje měřit za nízkých teplot (do asi 3K) a studovat tak nízkoteplotní změny mřížkových parametrů a fázové transformace. Nedávno byl difraktometr vybaven otočným stolkem umožňujícím nízkoteplotní měření rtg difrakce na monokrystalech a epitaxních tenkých vrstvách. Cílem práce je důkladné ověření reprodukovatelnosti měření a kalibrace teplotních čidel v difraktometru. Bude proměřena sada monokrystalických a tenkovrstevných vzorků se známou závislostí mřížkových parametrů na teplotě a bude tak stanovena korekční křivka teplotních čidel. Měření bude provedeno pro různé držáky vzorku, které mohou vykazovat různý tepelný odpor. Práce je vhodná pro studenty s dobrými znalostmi základů fyziky pevných látek a s dostatečnou experimentální zručností.
References
U. Pietsch, V. Holý, T. Baumbach, High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures, Springer; 2nd edition (2004)
Preliminary scope of work
Rtg difrakce na tenkých vrstvách a monokrystalech bude měřena v nízkoteplotním difraktometru za He teplot do 3K. Pro různé způsoby uchycení vzorku bude stanovena korekční křivka teplotních čidel v difraktometru.
Preliminary scope of work in English
X-ray diffraction from single crystals and epitaxial thin layers will be measured at very low temperatures down to 3K, using an x-ray diffractometer equipped with a closed-cycle cryostat. From the experimental data the correction factors of temerature sensors in the cryostat will be determined for various types of the thermal contact between the sample and the sample holder
