Vliv přípravy vzorku a způsobu měření na parametry strukturního modelu v práškové rtg.difrakci
| Thesis title in Czech: | Vliv přípravy vzorku a způsobu měření na parametry strukturního modelu v práškové rtg.difrakci |
|---|---|
| Thesis title in English: | Effects of the sample preparation and of the type of measurement on the structure model in powder x-ray diffraction |
| Key words: | rtg difrakce, strukturní model, Rietveldova metoda |
| English key words: | x-ray diffraction, structure model, Rietveld method |
| Academic year of topic announcement: | 2015/2016 |
| Thesis type: | project |
| Thesis language: | čeština |
| Department: | Department of Condensed Matter Physics (32-KFKL) |
| Supervisor: | doc. RNDr. Stanislav Daniš, Ph.D. |
| Author: | hidden - assigned by the advisor |
| Date of registration: | 20.10.2015 |
| Date of assignment: | 21.10.2015 |
| Guidelines |
| 1. Seznámení se s rtg.práškovou difrakcí
2. Příprava série vzorků a jejich charakterizace (mikroskop, ...) 3. Měření rtg.záznamů na různých difraktometrech a v různých geometriích 4. Vyhodnocení záznamů 5. Sepsání a odevzdání projektu |
| References |
| dle pokynů vedoucího |
| Preliminary scope of work |
| Analýza struktury pomocí rtg paprsků patří mezi základní experimentální metody (nejen) fyziky pevných látek. I na pracovišti zadavatele je zmíněná metoda standardně používána zejména v případě práškových, tj. polykrystalických, vzorků. Z naměřeného difrakčního záznamu lze vypřesnit strukturu zkoumané látky.
Často se stává, že parametry které obdržíme z použitého software neodpovídá fyzikální realitě. Není to však chyba programu, výsledný záznam rtg difrakce je dán součtem příspěvků od vzorku samotného i od přístroje. Cílem tohoto projektu je zjistit ovlivnění výsledného rtg.záznamu a posléze i parametrů strukturního modelu přípravou vzorků a typem měření difrakčního záznamu. Výsledky projektu budou použity na pracovišti zadavetele, kde poslouží ke standardizaci přípravy vzorků. Práce je spíše experimentální charakteru (příprava vzorků za definovaných podmínek a měření na různých difraktometrech) s vyhodnocování dat na PC. |